检测项目

1.元素比例偏离度测定：采用EDS/WDS测定主元素原子比偏差（±0.1at.%精度）

2.晶体结构缺陷浓度分析：通过XRD精修计算位错密度（10¹⁴-10¹⁶m^-2）

3.氧空位/硫空位定量：TGA-DSC联用测定非化学计量氧含量（Δx=0.01-0.5）

4.相纯度验证：同步辐射XRD检测微量杂相（检出限≤0.5wt.%）

5.热稳定性评估：高温原位XRD跟踪相变温度（25-1500℃）

检测范围

1.金属氧化物：如高温超导材料YBa₂Cu₃O_7-x

2.半导体材料：包括掺杂非整比GaAs_1-xP_x

3.催化剂：负载型过渡金属硫化物Co₉S_8-y

4.锂电正极材料：层状氧化物LiNi_0.8Co_0.15Al_0.05O_2±δ

5.功能陶瓷：氧离子导体ZrO_2-x(Y₂O₃)

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME975-20《残余应力测定》、GB/T23413-2009《纳米材料晶体结构测定》

2.电子探针微区分析：ISO22309:2011《微束分析-定量能谱法》

3.热重-差热联用：GB/T19469-2004《物质热稳定性测定方法》

4.X射线光电子能谱：ISO15470:2017《表面化学分析-XPS》

5.中子衍射分析：GB/T36065-2018《材料晶体结构中子衍射分析方法》

检测设备

1.BrukerD8ADVANCEXRD：配备LynxEye阵列探测器（角度分辨率0.0001°）

2.ThermoFisherTalosF200XTEM：STEM模式点分辨率0.16nm

3.NetzschSTA449F5Jupiter®：同步TGA-DSC（最高温度1600℃）

4.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪：配置高温附件（RT-1600℃）

5.PerkinElmerNexION®350DICP-MS：检出限低至ppt级

6.ShimadzuESCA-3400XPS：单色AlKα源（能量分辨率≤0.5eV）

7.OxfordInstrumentsAZtecEnergyEDS系统：搭载UltimMax170探测器

8.RigakuSmartLabSE：高分辨XRD（平行光路系统）

9.MettlerToledoTGA/DSC3+：超微量样品热分析（0.1μg灵敏度）

10.JEOLJXA-8530FEPMA：波长色散谱仪（空间分辨率1μm）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与非整比化合物检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。