检测项目
1.元素纯度分析：测定Pt含量（≥99.95%）、杂质元素（Ag/Au/Pd≤0.03%）
2.厚度均匀性：测量范围0.01-2.00mm（精度0.001mm）
3.表面粗糙度：Ra≤0.2μm（接触式轮廓仪测量）
4.晶粒度评级：ASTME112标准（平均晶粒尺寸≤50μm）
5.拉伸性能测试：抗拉强度≥140MPa（GB/T228.1）
检测范围
1.工业催化剂用铂片（载体涂层厚度10-200μm）
2.电子元件基材（纯度≥99.99%）
3.医用植入物原料（生物相容性测试）
4.高温炉隔热层组件（厚度公差0.05mm）
5.分析仪器电极材料（表面光洁度Ra≤0.1μm）
检测方法
1.X射线荧光光谱法（ISO3497:2000）测定元素组成
2.电感耦合等离子体质谱法（GB/T20127-2006）痕量杂质分析
3.金相显微镜法（ASTME3-11）观测微观组织
4.激光共聚焦显微镜（ISO25178-2）三维表面形貌分析
5.四点探针法（GB/T1551-2009）测量电阻率
检测设备
1.ThermoFisherARLQUANT'XXRF光谱仪（元素定量分析）
2.ZEISSEVOMA15扫描电镜（50000倍显微观察）
3.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪（16μm半径探针）
4.Instron5967万能试验机（50kN载荷精度）
5.NetzschDIL402C热膨胀仪（0.1nm分辨率）
6.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪（Cu靶Kα辐射）
7.Agilent7900ICP-MS（ppt级检出限）
8.OlympusGX53倒置金相显微镜（微分干涉对比）
9.KeysightB2902A精密源表（电阻率测试）
10.MahrMillimar1248电感测微仪（0.25μm精度）