1.元素纯度分析:测定Pt含量(≥99.95%)、杂质元素(Ag/Au/Pd≤0.03%)
2.厚度均匀性:测量范围0.01-2.00mm(精度0.001mm)
3.表面粗糙度:Ra≤0.2μm(接触式轮廓仪测量)
4.晶粒度评级:ASTME112标准(平均晶粒尺寸≤50μm)
5.拉伸性能测试:抗拉强度≥140MPa(GB/T228.1)
1.工业催化剂用铂片(载体涂层厚度10-200μm)
2.电子元件基材(纯度≥99.99%)
3.医用植入物原料(生物相容性测试)
4.高温炉隔热层组件(厚度公差0.05mm)
5.分析仪器电极材料(表面光洁度Ra≤0.1μm)
1.X射线荧光光谱法(ISO3497:2000)测定元素组成
2.电感耦合等离子体质谱法(GB/T20127-2006)痕量杂质分析
3.金相显微镜法(ASTME3-11)观测微观组织
4.激光共聚焦显微镜(ISO25178-2)三维表面形貌分析
5.四点探针法(GB/T1551-2009)测量电阻率
1.ThermoFisherARLQUANT'XXRF光谱仪(元素定量分析)
2.ZEISSEVOMA15扫描电镜(50000倍显微观察)
3.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪(16μm半径探针)
4.Instron5967万能试验机(50kN载荷精度)
5.NetzschDIL402C热膨胀仪(0.1nm分辨率)
6.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪(Cu靶Kα辐射)
7.Agilent7900ICP-MS(ppt级检出限)
8.OlympusGX53倒置金相显微镜(微分干涉对比)
9.KeysightB2902A精密源表(电阻率测试)
10.MahrMillimar1248电感测微仪(0.25μm精度)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与铂片检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。