1.能量分辨率:测量FWHM(半高宽)≤0.15%@1.33MeV
2.线性范围:验证0.1keV-3MeV能量区间线性偏差<0.05%
3.探测效率:校准HPGe探测器效率曲线(10%-40%@1.33MeV)
4.峰康比:评估≥1000:1(Co-601.33MeV峰)
5.稳定性测试:8小时连续工作峰位漂移<0.01%
1.半导体材料:硅晶圆掺杂浓度(1E10-1E18atoms/cm)
2.核燃料元件:U-235富集度(0.7-90%)
3.环境样本:土壤/水体中Ra-226(0.1-1000Bq/kg)
4.医疗设备:CT机准直器铅当量(0.5-5mmPb)
5.工业探伤:焊缝缺陷γ射线成像分辨率(≥3LP/mm)
1.ASTME1504-11:高纯锗γ谱仪校准规范
2.ISO18589-4:土壤中放射性核素测量方法
3.GB/T11713-2015:高纯锗γ能谱分析通用方法
4.IEC61452:2021:核仪器多道分析器性能测试
5.GB18871-2002:电离辐射防护与辐射源安全标准
1.ORTECDSPEC50:数字化谱仪系统,支持8192道分析
2.CANBERRAInspector2000:集成MCA模块化能谱仪
3.MirionTechnologiesGR1:便携式HPGe核素识别仪
4.AMETEKLynx:数字信号处理多道分析器(16k通道)
5.RIGOLDSA800:高精度数字频谱分析仪(9kHz-3GHz)
6.BERTHOLDLB124:α/β/γ多探头符合测量系统
7.AGILENTN9322C:射频信号分析仪(9kHz-7GHz)
8.HAMAMATSUC13284:硅漂移探测器X射线能谱仪
9.BRUKERXSORT:手持式XRF元素分析仪(Mg-U)
10.THERMOSCIENTIFICRadEyePRD:中子/γ复合探测器
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与多道分析器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。