检测项目

1.能量分辨率：测量FWHM（半高宽）≤0.15%@1.33MeV

2.线性范围：验证0.1keV-3MeV能量区间线性偏差＜0.05%

3.探测效率：校准HPGe探测器效率曲线（10%-40%@1.33MeV）

4.峰康比：评估≥1000:1（Co-601.33MeV峰）

5.稳定性测试：8小时连续工作峰位漂移＜0.01%

检测范围

1.半导体材料：硅晶圆掺杂浓度（1E10-1E18atoms/cm）

2.核燃料元件：U-235富集度（0.7-90%）

3.环境样本：土壤/水体中Ra-226（0.1-1000Bq/kg）

4.医疗设备：CT机准直器铅当量（0.5-5mmPb）

5.工业探伤：焊缝缺陷γ射线成像分辨率（≥3LP/mm）

检测方法

1.ASTME1504-11：高纯锗γ谱仪校准规范

2.ISO18589-4：土壤中放射性核素测量方法

3.GB/T11713-2015：高纯锗γ能谱分析通用方法

4.IEC61452:2021：核仪器多道分析器性能测试

5.GB18871-2002：电离辐射防护与辐射源安全标准

检测设备

1.ORTECDSPEC50：数字化谱仪系统，支持8192道分析

2.CANBERRAInspector2000：集成MCA模块化能谱仪

3.MirionTechnologiesGR1：便携式HPGe核素识别仪

4.AMETEKLynx：数字信号处理多道分析器（16k通道）

5.RIGOLDSA800：高精度数字频谱分析仪（9kHz-3GHz）

6.BERTHOLDLB124：α/β/γ多探头符合测量系统

7.AGILENTN9322C：射频信号分析仪（9kHz-7GHz）

8.HAMAMATSUC13284：硅漂移探测器X射线能谱仪

9.BRUKERXSORT：手持式XRF元素分析仪（Mg-U）

10.THERMOSCIENTIFICRadEyePRD：中子/γ复合探测器