检测项目

1.元素价态分析：X射线光电子能谱（XPS）测定结合能范围0-1500eV

2.分子振动模式识别：傅里叶变换红外光谱（FTIR）扫描范围400-4000cm⁻

3.晶体场分裂效应测量：紫外可见吸收光谱（UV-Vis）波长覆盖190-900nm

4.自旋轨道耦合强度测定：高分辨激光诱导荧光光谱（LIF）分辨率≤0.001nm

5.缺陷态密度表征：低温光致发光光谱（PL）温度控制精度0.5K

检测范围

1.半导体材料：GaN、SiC等宽禁带半导体带边发光特性分析

2.金属合金：过渡金属化合物d-d跃迁特征谱解析

3.纳米材料：量子点尺寸效应引起的斯托克斯位移测量

4.光学薄膜：多层介质膜界面应力导致的谱线展宽研究

5.生物样品：蛋白质二级结构α螺旋/β折叠红外特征峰识别

检测方法

1.ASTME275：紫外、可见、近红外分光光度计性能验证规程

2.ISO15470：X射线光电子能谱仪能量标定标准程序

3.GB/T21186-2007：傅里叶变换红外光谱分析方法通则

4.ISO21270：表面化学分析-X射线光电子能谱强度标定方法

5.GB/T33352-2016：电子能谱定量分析表面元素含量测试方法

检测设备

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与精细结构光谱检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。