检测项目
1.硅含量测定：采用重量法/分光光度法检测0.1%-50%含量范围
2.锆元素分析：X射线荧光光谱法（XRF）测定99.5%-99.99%纯度
3.杂质元素检测：ICP-OES测定Fe、Cr、Ni等痕量元素（≤100ppm）
4.相组成分析：XRD测定α-Zr、β-Zr及硅化物相比例
5.微观结构观察：SEM-EDS分析晶粒尺寸（1-200μm）及元素分布
检测范围
1.核工业用硅锆合金包壳材料
2.高温陶瓷ZrO₂-SiC复合材料
3.电子级高纯硅锆溅射靶材（4N级）
4.铸造用ZrSi2中间合金
5.耐火材料ZrSiO4晶相制品
检测方法
ASTME1621-22X射线荧光光谱法测定金属元素
ISO21068-2:2008碳化硅材料化学分析方法
GB/T223.75-2022钢铁及合金化学分析方法
ASTMB935-21锆及锆合金化学分析标准指南
GB/T16597-2019金属材料定量相分析X射线衍射法
检测设备
ThermoScientificARLPERFORM'XXRF光谱仪：波长色散型，可测Be-U元素
PerkinElmerOptima8300ICP-OES：轴向观测系统，检出限达ppb级
BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪：Cu靶光源，角度精度0.0001
HitachiSU5000场发射SEM：分辨率1nm@15kV，配备BrukerXFlash6EDS探头
MettlerToledoXP205分析天平：称量精度0.01mg/220g
LECOONH836氧氮氢分析仪：氧检测下限0.05ppm
NETZSCHSTA449F3同步热分析仪：温度范围RT-1550℃
Agilent7900ICP-MS：质量数范围2-260amu，检出限<0.1ppt