1.电子束流稳定性测试:测量连续工作状态下束流波动范围(0.5%),持续时间≥72小时
2.加速电压精度验证:评估20-150kV范围内电压偏差(≤0.1%),含动态负载变化测试
3.阴极发射特性分析:包括功函数测量(0.02eV)、发射均匀性(CV≤3%)及寿命预测(≥8000小时)
4.聚焦系统性能检测:束斑直径测量(0.1-10μm可调),场曲率误差≤0.05%
5.真空兼容性测试:氦气泄漏率≤110-9mbarL/s,极限真空度≤510-7Pa
1.半导体晶圆加工用电子枪系统(硅基/化合物半导体)
2.高精度金属蒸镀装置核心组件
3.纳米级陶瓷涂层制备设备
4.电子束光刻系统关键模块
5.医用直线加速器电子发射单元
ASTME2730-2021《StandardPracticeforElectronicBeamWeldingQualityAssurance》
ISO14706:2022《Surfacechemicalanalysis—MeasurementoflateralresolutioninAESandXPS》
GB/T28871-2012《电子探针显微分析通用技术条件》
GB/T35033-2018《微束分析扫描电镜-能谱仪联用系统校测方法》
IEC61340-4-7:2017《Electrostatics-Part4-7:Standardtestmethodsforspecificapplications-Ionization》
1.KeysightB2912A精密源表:分辨率0.1fA/100nV,用于微电流特性分析
2.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜:配备CL探测器,空间分辨率0.8nm@15kV
3.Agilent3458A八位半数字万用表:基本DCV精度0.0006%,电压基准溯源NIST
4.PfeifferHIPACE700分子泵组:极限真空510-8mbar,配双通道质谱仪
5.OmicronUHVSTM/AFM联用系统:原子级表面分析,Z轴分辨率0.01nm
6.Keithley2636B双通道源表:脉冲模式上升时间<10μs,支持200V/10A输出
7.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:配备Euleriancradle,角度重复性0.0001
8.Fluke8588A参考级万用表:8.5位分辨率,年精度0.0004%读数+0.00006%量程
9.LeyboldL300i氦质谱检漏仪:最小可检漏率510-13mbarL/s
10.ThermoScientificESCALABXi+XPS系统:单色AlKα源,能量分辨率<0.45eV
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与浸没式电子枪检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。