检测项目

1.插入损耗测试：波长范围1260-1650nm，精度0.05dB@1550nm

2.偏振相关损耗(PDL)：测量范围0-5dB，分辨率0.01dB

3.波长相关损耗(WDL)：扫描步长0.1nm，动态范围50dB

4.回波损耗(ORL)：检测阈值-70dB至+20dB

5.热稳定性测试：温度循环-40℃~+85℃，温变速率3℃/min

检测范围

1.硅基光子芯片：包括AWG滤波器、光调制器等

2.磷化铟(InP)有源器件：激光器芯片、光电探测器

3.氮化硅(SiN)波导器件：微环谐振器、分束器

4.聚合物光波导：柔性光互连模块

5.混合集成模块：III-V族/Si异质集成器件

检测方法

1.ISO14700-3:2021光波导传输特性测试规范

2.ASTMF3258-19光子芯片热机械可靠性评估方法

3.GB/T15972.40-2021光纤器件环境试验规程

4.IEC62150-5:2020光器件接口参数测试标准

5.GB/T18310.48-2023光组件机械耐久性试验方法

检测设备

1.KeysightN7788B光波成分分析仪：支持C+L波段偏振解析测量

2.EXFOFTB-5240S-P光损耗测试系统：动态范围75dB@1550nm

3.LunaOVA5000分布式光学矢量分析仪：空间分辨率10μm

4.AgilentB1500A半导体参数分析仪：最小电流分辨率10fA

5.ThermoStreamT-2600温度冲击试验箱：温变速率15℃/s

6.VeecoNT9100白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm

7.HamamatsuC12132多通道光子计数系统：时间分辨率25ps

8.BrukerContourElite三维光学轮廓仪：横向精度0.15μm

9.AnritsuMP2110ABER测试仪：误码率测量下限10^-15

10.ThorlabsOSA205C高分辨率光谱分析仪：波长精度5pm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光子集成电路检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。