1.有效面积偏差:测量实际面积与标称值的差异范围(0.5-1.5mm)
2.边缘直线度误差:采用激光干涉仪检测边缘轮廓偏移量(≤0.02mm/m)
3.表面粗糙度:Ra值控制在0.1-0.4μm区间
4.厚度均匀性:全表面厚度波动不超过标称值的2%
5.材料密度分布:通过X射线荧光法测定密度差异(Δρ≤0.15g/cm)
1.金属溅射靶材:包括钛合金、铜钨复合材料等
2.陶瓷涂层基板:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)等
3.半导体晶圆载体:硅(Si)、砷化镓(GaAs)基板
4.光学镀膜靶材:二氧化硅(SiO₂)、氧化铟锡(ITO)薄膜
5.聚合物复合材料:聚酰亚胺(PI)、聚四氟乙烯(PTFE)基材
ASTMF1716-2018规定旋转溅射靶材的平面度测试规程
ISO14637:2004明确非晶态金属靶材的微观结构评估方法
GB/T20721-2022微束分析标准指导电子探针成分分析
GB/T11344-2017规范超声波测厚仪的操作校准流程
ISO4287:2023定义表面粗糙度的接触式测量要求
1.MitutoyoCRYSTA-ApexS三坐标测量机(精度1.5μm)
2.KeyenceLJ-V7000系列激光位移传感器(分辨率0.01μm)
3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(角度重复性0.0001)
4.Olympus38DLPLUS超声波测厚仪(量程0.15-500mm)
5.TaylorHobsonFormTalysurfPGI三维轮廓仪(纵向分辨率0.8nm)
6.ZeissAxioImager.A2m金相显微镜(最大放大倍数1500)
7.ShimadzuEDX-7000能量色散X荧光光谱仪(检出限1ppm)
8.Agilent5500原子力显微镜(Z轴分辨率0.1nm)
9.Instron5967万能材料试验机(载荷精度0.5%)
10.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线衍射仪(扫描速度3000/min)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与靶子面积检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。