1.位置偏差:测量X/Y/Z轴线性位移误差(0.5μm~5μm)
2.角度偏差:检测俯仰角/偏航角/滚转角偏移量(0.1~0.5)
3.重复定位精度:评估连续运动轨迹复现性(≤1μm)
4.同轴度误差:测定旋转轴与基准轴偏移量(≤0.005mm)
5.平面度偏差:分析装配面平整度(≤3μm/100mm)
1.半导体制造设备:光刻机晶圆台/掩膜版对准系统
2.光学仪器:望远镜物镜组/激光发射器镜片组
3.精密机械:数控机床主轴/工业机器人末端执行器
4.电子元件:PCB板焊盘定位/芯片封装对位系统
5.医疗器械:CT扫描机旋转架/手术机器人关节臂
1.激光干涉法:ASTME2867-14测量线性位移误差
2.数字图像处理法:ISO10360-7进行视觉定位分析
3.坐标测量法:GB/T17421.2-2016执行空间坐标校准
4.电容传感法:ISO230-3评估微米级位置偏差
5.光栅尺反馈法:GB/T23568-2009验证闭环系统精度
1.LeitzPMM-CInfinity三坐标测量机(分辨率0.08μm)
2.RenishawXL-80激光干涉仪(线性测量精度0.5ppm)
3.KeyenceLM-9000系列光栅尺(采样频率100kHz)
4.ZeissO-INSPECT442多传感器系统(复合式测量)
5.MitutoyoCMM-Crysta-ApexS坐标机(温度补偿系统)
6.PolytecPSV-500扫描式振动仪(动态误差分析)
7.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂(便携式现场检测)
8.NikonNEXIVVMZ-S656T视频测量系统(光学放大2000倍)
9.Agilent5530动态校准仪(6自由度误差补偿)
10.OGPSmartScopeFlash500多光谱测量仪(混合光源技术)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与对准精度检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。