检测项目

1.晶格常数测定：精度0.0005nm，测量范围0.2-1.5nm

2.晶粒尺寸分析：分辨率10-500nm，误差率≤3%

3.残余应力测量：灵敏度10MPa，量程-2000至2000MPa

4.物相定性/定量分析：检出限0.5wt%，匹配度≥95%

5.晶体取向测定：角度分辨率0.01，方位角覆盖0-360

检测范围

1.金属材料：铝合金轧制板材的织构分析；钛合金锻件的残余应力分布

2.陶瓷材料：氧化铝基板的晶粒生长评价；氮化硅轴承球的相组成鉴定

3.高分子材料：聚乙烯薄膜的结晶度测定；聚丙烯注塑件的取向分布

4.纳米材料：纳米银颗粒的粒径统计；石墨烯薄膜的层间间距测量

5.地质矿物：石英岩的变质程度评估；长石类矿物的同质多象分析

检测方法

ASTME975-20:X射线衍射法测定残余应力的标准试验方法

ISO20203:2019:铝生产用碳质材料的X射线衍射分析

GB/T23415-2021:金属材料残余应力测定方法

GB/T30757-2014:晶体取向测定方法通则

JISK0131:2012:X射线衍射通用分析规则

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备9kW旋转阳极靶，支持透射/反射双模式

2.BrukerD8ADVANCEDavinci设计：HybridPixel阵列探测器，角度重现性0.0001

3.PANalyticalEmpyrean系统：具备PIXcel3D探测器，可执行三维极图扫描

4.ShimadzuXRD-7000：配备高温附件（RT-1600℃），支持原位相变研究

5.ThermoFisherARLEQUINOX3000：采用微区聚焦技术（50μm光斑直径）

6.MalvernPanalyticalX'Pert3MRD：配置四轴测角仪（ω,φ,ψ,χ）

7.ProtoLXRD残余应力分析仪：便携式设计，集成激光定位系统

8.InelEquinox100：弯曲位置敏感探测器（120覆盖角度）