


1.晶粒尺寸分布:测量等效直径范围0.5-500μm,长宽比1.0-8.0
2.取向差角度:统计0-15小角度晶界与15-62.8大角度晶界比例
3.织构强度:计算极密度值(1.0-15.0)与取向分布函数(ODF)截面分析
4.相组成比例:测定α相/β相体积分数(精度0.5%)及界面特征
5.缺陷密度:量化孔隙率(0.01-5%)、夹杂物尺寸(1-50μm)及分布均匀性
1.金属结构材料:钛合金TC4/TA15、铝合金6061/7075系列锻件
2.高温合金:镍基GH4169/Inconel718铸造涡轮叶片
3.陶瓷基复合材料:SiC/SiC刹车盘与核用ZrC-SiC包壳管
4.电子封装材料:钨铜W80Cu20与钼铜Mo60Cu40层状复合体
5.增材制造件:316L不锈钢SLM成型件与Ti6Al4V电子束熔融件
1.ASTME112-13平均晶粒度测定法(截距法/面积法)
2.ISO16700:2016扫描电镜电子背散射衍射(EBSD)晶体取向分析
3.GB/T13298-2015金属显微组织检验方法(腐蚀剂配比与制样规程)
4.ASTME2627-13电子通道衬度成像(ECCI)位错密度测定
5.ISO6507-1:2018维氏硬度试验法(载荷0.098-49N)
6.GB/T4340.1-2009金属材料显微维氏硬度试验(HV0.01-HV100)
1.三坐标测量机:MitutoyoCRYSTA-ApexS系列(三维尺寸精度0.8μm)
2.场发射扫描电镜:ThermoScientificApreo2(分辨率0.7nm@15kV)
3.EBSD系统:OxfordInstrumentsSymmetryS2(采集速度4000pps)
4.X射线衍射仪:BrukerD8ADVANCE(Cu靶Kα辐射λ=0.15406nm)
5.全自动金相显微镜:ZeissAxioImagerM2m(50-1000倍明暗场切换)
6.显微硬度计:WilsonWolpertTukon2500(闭环载荷控制0.25%)
7.离子研磨仪:HitachiIM4000Plus(加速电压1-6kV可调)
8.ECCI附件:GatanOnPoint电子通道衬度探测器
9.能谱仪:EDAXOctaneElite(SDD探头分辨率127eV)
10.三维重构系统:BrukerSkyScan1272(体素分辨率0.25μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"方块字型组织检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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