高稳定晶体振荡器检测

检测项目

1.频率稳定性：测量短期稳定度（1秒~100秒）≤0.1ppb/day，长期稳定度（年漂移）≤2ppm

2.相位噪声：测试偏移频率10Hz~1MHz范围指标（如-160dBc/Hz@10kHz）

3.老化率：评估30天连续工作后频率变化量≤310^-9/day

4.温度特性：验证-40℃~+85℃温域内频率偏差≤0.5ppm

5.功耗特性：测量待机模式≤1.5mA@3.3V，工作模式≤8mA@3.3V

检测范围

1.石英晶体振荡器（SPXO）：适用于消费电子及工业控制设备

2.恒温晶体振荡器（OCXO）：用于基站通信与卫星导航系统

3.温度补偿晶体振荡器（TCXO）：覆盖车载电子与物联网终端

4.压控晶体振荡器（VCXO）：应用于雷达系统与射频模块

5.MEMS振荡器：测试硅基微机电系统在极端振动环境下的性能

检测方法

1.GB/T12273-2017《电子元器件质量评定体系规范石英晶体元件》规定频率温度特性测试流程

2.ASTMF1802-2018采用双混频时差法测量长期频率稳定度

3.IEC60679-1:2017定义相位噪声测试的载波抑制法技术要求

4.GB/T2423.22-2012实施温度循环试验（-55℃~+125℃,10次循环）

5.ISO9022-21:2021规范机械冲击测试（半正弦波,1500g,0.5ms）

检测设备

1.Keysight53230A频率计数器：分辨率0.001μHz，支持艾伦方差分析

2.Rohde&SchwarzFSWP相位噪声分析仪：动态范围＞190dBc/Hz@10GHz

3.ThermotronSM-32C高低温试验箱：温控精度0.3℃，转换速率5℃/min

4.AgilentN6705C直流电源分析仪：电流测量分辨率0.1μA

5.B&K4809振动台：最大加速度2000m/s，频率范围5Hz~10kHz

6.AnritsuMS2830A信号源分析仪：相位噪声基底-178dBc/Hz@10kHz偏移

7.EspecPL-3K恒温老化箱：温度均匀性0.5℃，支持30天连续测试

8.TektronixMDO3104混合域示波器：6GHz带宽，时频域同步分析

9.Chroma63200A电源负载机：动态负载调整率＜0.05%

10.Fluke8588A参考级万用表：8位数模转换精度，基本DCV精度0.0006%

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"高稳定晶体振荡器检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。