1. 波长范围:测量激光发射中心波长及谱宽(如780-1650nm近红外至中红外波段),精度±0.1nm
2. 输出功率稳定性:连续工作8小时功率波动≤±1.5%,瞬态脉冲功率偏差<5%
3. 光束质量因子M²:采用ISO 11146标准测量横向模式分布(典型值1.0-1.3)
4. 阈值电流:测定器件启动电流值(通常20-200mA),误差范围±0.5mA
5. 光谱线宽:高分辨率光谱仪测量单模线宽(典型值<1MHz)
1. 边发射半导体激光器(EEL):用于光纤通信及工业切割领域
2. 垂直腔面发射激光器(VCSEL):应用于3D传感与短距光互联
3. 量子级联激光器(QCL):覆盖中远红外光谱的气体检测器件
4. 高功率激光二极管阵列:工业焊接与泵浦源核心组件
5. 可调谐分布式反馈激光器(DFB):DWDM光模块关键部件
1. ASTM E2758-2016:半导体激光器光束质量分析方法
2. ISO 11146-1:2021:激光束宽度与发散角测量规范
3. GB/T 15175-2012:半导体激光器电特性测试规程
4. IEC 60825-1:2014:激光产品安全等级分类标准
5. GB/T 31359-2015:半导体激光器寿命试验方法
1. Yokogawa AQ6375E光谱分析仪:波长分辨率0.02nm,支持1200-2400nm波段
2. Thorlabs PM320E热电堆功率计:测量范围10μW-10W,精度±0.8%
3. Ophir LBA-7100光束质量分析仪:CCD分辨率1920×1200像素
4. Keysight B2902A精密源表:电流分辨率10fA,电压量程±210V
5. Newport 2936-R温控平台:控温范围-40℃~150℃,稳定性±0.01℃
6. Agilent N9020A信号分析仪:26.5GHz带宽频谱测量
7. Labsphere LMS-7600积分球系统:直径75cm光通量测量装置
8. PI S-330高速位移台:定位精度50nm的焦斑扫描系统
9. Fluke 1586A绝缘电阻测试仪:1000V耐压测试能力
10. HIOKI PW3390功率分析仪:基本精度±0.04%的电参数测量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与半导体激光检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。