1. 结晶度测定:采用X射线衍射法(XRD)测量非晶区与结晶区比例,扫描范围2θ=5°-40°,步长0.02°
2. 晶型分析:通过广角X射线散射(WAXS)识别α/β/γ晶型特征峰位(典型峰位:16.8°、18.5°、21.6°)
3. 晶粒尺寸计算:基于Scherrer公式处理(110)晶面衍射峰半高宽数据
4. 熔融行为测试:差示扫描量热仪(DSC)测定熔融焓(ΔHm)及熔点(Tm),升温速率10℃/min
5. 取向度分析:二维小角X射线散射(SAXS)测定Herman取向因子(f=0-1)
1. 聚烯烃材料:高密度聚乙烯(HDPE)管材、聚丙烯(PP)注塑件
2. 工程塑料:聚酰胺(PA66)齿轮部件、聚甲醛(POM)精密零件
3. 纤维制品:PET工业丝、芳纶1414防弹纤维
4. 功能性薄膜:双向拉伸聚酯(BOPET)电容膜、流延聚丙烯(CPP)包装膜
5. 生物医用材料:PLA可吸收缝合线、PEEK骨科植入物
1. ASTM D3418-15:差示扫描量热法测定聚合物熔点标准
2. ISO 11357-3:2018:塑料-差示扫描量热法第3部分熔融和结晶焓测定
3. GB/T 19466.3-2004:塑料差示扫描量热法第3部分氧化诱导期测试
4. ISO 17850:2015:塑料薄膜和薄片广角X射线衍射结晶度测定
5. GB/T 36047-2018:X射线衍射法测定纤维取向度
1. PANalytical X'Pert3 MRD X射线衍射仪:配备高温附件(-190℃~1200℃),可进行原位结晶过程分析
2. TA Instruments Q2000差示扫描量热仪:温度精度±0.1℃,支持调制DSC技术
3. Bruker D8 DISCOVER小角散射系统:配备VANTEC-500探测器,q范围0.06-30nm⁻¹
4. Hitachi Regulus 8230冷场发射电镜:分辨率0.7nm@15kV,配备EBSD晶体取向分析模块
5. Netzsch LFA467 HyperFlash激光导热仪:测量范围0.1-2000mm²/s,用于晶体导热各向异性研究
6. Malvern Morphologi 4全自动粒度粒形分析仪:结合干法分散技术表征晶体颗粒形貌
7. Anton Paar MCR702流变仪:配备结晶监测模块(CCR),实时跟踪结晶动力学过程
8. Rigaku SmartLab 9kW旋转阳极衍射仪:配置平行光路系统(CBO-E),适合薄膜样品测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与高分子晶体学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。