检测项目

1. 阈值电压（Vth）漂移：测量范围±0.5V，精度±1mV

2. 漏电流（Ioff）：分辨率0.1pA@25℃，最大量程1mA

3. 栅氧层厚度：测量精度±0.05nm（1-10nm范围）

4. 载流子迁移率：霍尔效应法测量，误差≤3%

5. 界面态密度（Dit）：CV法测试频率1kHz-1MHz

检测范围

1. CMOS逻辑器件栅极结构

2. FinFET三维沟道区域

3. 功率半导体IGBT单元

4. MEMS传感器压敏薄膜

5. 光电探测器PN结界面

检测方法

ASTM F1248-2016 漏电流温度特性测试规范

ISO 14646:2020 半导体器件阈值电压稳定性评估

GB/T 17573-2021 半导体器件电学参数测试通则

IEC 60749-28:2017 热载流子注入效应测试

JESD22-A108F 高温工作寿命(HTOL)加速试验

检测设备

Keysight B1500A半导体参数分析仪：支持DC-IV/CV/脉冲测试

Thermo Fisher Helios G4 UX聚焦离子束显微镜：0.7nm分辨率成像

Bruker Dimension Icon原子力显微镜：峰值力轻敲模式扫描

Oxford Instruments Symmetry EBSD系统：晶体取向分析精度0.1°

KLA Surfscan SP7无图形晶圆缺陷检测仪：15nm颗粒灵敏度

Hamamatsu PHEMOS-X光发射显微镜：单光子探测能力

FEI Titan Themis球差校正电镜：50pm空间分辨率

Advantest T2000混合信号测试系统：1024通道并行测试

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与晶体管级硅检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。