检测项目

1. 量子效率（QE）：波长范围200-1100nm，典型值≥80%@550nm

2. 暗电流密度：温度-60℃至25℃，阈值≤0.1nA/cm²@-40℃

3. 电荷转移效率（CTE）：垂直/水平方向≥0.99995@1MHz时钟频率

4. 动态范围：线性响应区≥70dB@16bit ADC

5. 光谱响应非均匀性：全波段≤±3%@峰值波长

检测范围

1. 科学级背照式CCD：用于天文望远镜与高分辨率光谱仪

2. 工业线阵CCD：适用于平板显示检测与印刷品质量监控

3. 医用X射线CCD：数字放射摄影系统核心组件

4. 紫外增强型CCD：环境监测与荧光分析专用器件

5. 消费级CMOS-CCD混合器件：安防监控与手机摄像模组

检测方法

1. ASTM E2590-15：光电探测器绝对光谱响应测量规范

2. ISO 15529:2010：光学系统调制传递函数（MTF）测试

3. GB/T 31370.2-2015：半导体光电器件暗电流测试方法

4. IEC 60747-5-3：电荷转移效率的时钟脉冲驱动法

5. GB/T 18904.3-2002：图像传感器动态范围测量规程

检测设备

1. Keithley 4200-SCS半导体分析仪：暗电流与I-V特性测试

2. Ocean Optics QE Pro光谱仪：200-1100nm量子效率测量

3. Janis Research ST-500低温探针台：-196℃至150℃温控测试

4. Hamamatsu C11347-11积分球光源：均匀照明校准系统

5. X-Rite i1Pro3分光光度计：色彩还原特性分析

6. Tektronix AWG5208任意波形发生器：驱动时序信号模拟

7. FLIR X8380红外热像仪：工作状态热分布监测

8. Agilent 86100C示波器：纳秒级时序信号采集

9. Labsphere LMS-7600光辐射标准源：绝对辐射标定

10. Zeiss Axio Imager 2显微镜：微米级像素缺陷检测

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与电荷耦合器件检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。