1. 立构单元序列分布:测定单体单元在聚合物链中的排列顺序(分辨率0.5-10kDa)
2. 重复单元长度分布:量化链段周期性特征(测量范围10-500nm)
3. 立体规整度指数:计算全同/间同立构体比例(精度±0.5%)
4. 端基官能团含量:识别链端化学基团类型(检出限0.01mol%)
5. 分子量多分散性:表征Mw/Mn比值(测试范围1.02-3.50)
6. 结晶区取向度:测定有序结构占比(角度分辨率±0.1°)
1. 高分子合成材料:聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)、聚苯乙烯(PS)等烯烃类聚合物
2. 共聚物材料:苯乙烯-丁二烯橡胶(SBR)、丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物(ABS)
3. 生物医用材料:聚乳酸(PLA)、聚己内酯(PCL)等可降解高分子支架
4. 功能高分子材料:液晶聚合物(LCP)、形状记忆聚氨酯(SMPU)
5. 特种工程塑料:聚醚醚酮(PEEK)、聚酰亚胺(PI)薄膜及模塑件
1. ASTM D5296-19:采用600MHz NMR波谱进行立构序列定量分析
2. ISO 18118:2015:通过XPS表面分析测定端基官能团分布
3. GB/T 36214-2018:基于GPC-MALS联用技术测定分子量多分散性
4. ISO 11357-3:2018:使用DSC差示扫描量热法分析结晶度变化
5. GB/T 19466.2-2004:红外光谱法定性识别立构特征吸收峰
6. ASTM F2900-12:小角X射线散射(SAXS)测定重复单元周期结构
1. Bruker Avance III HD 500核磁共振波谱仪:配备CryoProbe Prodigy探头,支持19F/13C双共振实验
2. Thermo Scientific ESCALAB Xi+ X射线光电子能谱仪:配备单色化Al Kα源(1486.6eV)
3. Waters ACQUITY APC系统:最大分离度达25,000理论塔板数/米
4. Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪:配置Cross Beam Optics光学系统
5. TA Instruments Q2000差示扫描量热仪:温度精度±0.1℃,升温速率0.01-200℃/min
6. Agilent 1260 Infinity II GPC系统:配备PLgel MIXED-C色谱柱(分离范围200-4,000,000g/mol)
7. PerkinElmer Frontier FT-IR光谱仪:光谱范围7800-350cm⁻¹,分辨率0.4cm⁻¹
8. Anton Paar SAXSess mc²小角散射仪:q范围0.006-3nm⁻¹
9. Shimadzu GCMS-QP2020 NX气质联用仪:EI源电离能量5-240eV可调
10. Hitachi SU9000场发射电镜:分辨率0.4nm@15kV,配备EDX能谱附件
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与立构重复单元检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。