检测项目

1. 纯度测定：采用ICP-OES法测定CsI主成分含量≥99.99%，Cl⁻杂质≤50ppm

2. 晶体结构分析：XRD测定立方晶系结构参数a=0.456±0.003nm

3. 痕量金属检测：ICP-MS测定K⁺≤10ppm、Na⁺≤5ppm、Fe³⁺≤2ppm

4. 粒度分布：激光散射法测定D50=15-25μm且D90≤40μm

5. 水分含量：卡尔费休法测定游离水≤0.05wt%

6. 透光性能：紫外-可见分光光度计测试380nm波长透过率≥90%

检测范围

1. 闪烁晶体材料：包括单晶/多晶CsI及其Tl掺杂改性材料

2. 核医学探测器组件：PET/CT设备用CsI(Tl)阵列模块

3. 光学镀膜材料：真空蒸镀级CsI颗粒与预制靶材

4. 辐射防护材料：中子屏蔽用CsI复合板材与涂层

5. 半导体掺杂原料：MBE外延生长用高纯CsI源材料

检测方法

1. ASTM E975-20《X射线衍射定量相分析标准方法》

2. ISO 11885:2007《水质-电感耦合等离子体发射光谱法测定元素》

3. GB/T 33042-2016《激光粒度分析仪性能测试方法》

4. GB/T 6283-2008《化工产品中水分含量的测定卡尔费休法》

5. ISO 21501-4:2018《粒度分析-单粒子光相互作用法》

6. ASTM E3061-17《电感耦合等离子体质谱法测定金属杂质》

检测设备

1. PANalytical X'Pert3 Powder X射线衍射仪：配备HighScore Plus软件进行晶体结构精修

2. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：配置SC-FAST进样系统实现ppb级元素分析

3. Agilent 7900 ICP-MS：配备ORS4碰撞反应池消除质谱干扰

4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：采用Mie散射理论计算粒径分布

5. Metrohm 917 Coulometric Karl Fischer滴定仪：分辨率达0.1μg H₂O

6. Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计：双单色器系统覆盖185-3300nm波段

7. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪：同步测定热重与差示扫描量热数据

8. Bruker D8 ADVANCE XRD系统：配备LYNXEYE XE-T探测器实现快速相分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与碘化铯检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。