1. 矿物组成定量分析:采用Rietveld全谱拟合法定量主次矿物含量(误差≤0.5wt%)
2. 晶体结构参数测定:包括晶胞参数(a,b,c轴精度±0.001Å)、空间群归属及原子占位度计算
3. 微观形貌表征:表面粗糙度Ra值(分辨率0.1nm)、晶粒尺寸分布(测量范围10nm-100μm)
4. 元素分布图谱:EDS面扫元素分布(探测限≥0.1wt%),WDS线扫描精度±0.03%
5. 织构取向分析:极图采集角度范围0-360°,ODF计算采用ADC算法
1. 金属矿石类:铁矿石(磁铁矿/赤铁矿)、铜矿石(黄铜矿/斑铜矿)、稀土矿(独居石/氟碳铈矿)
2. 非金属矿物:石英族矿物(α-石英/方石英)、碳酸盐类(方解石/白云石)、黏土矿物(高岭石/蒙脱石)
3. 工业副产品:冶金炉渣(高炉渣/铜渣)、粉煤灰(I级/II级)、脱硫石膏(α/β半水石膏)
4. 陶瓷材料:氧化铝基陶瓷(α-Al₂O₃含量≥99%)、氮化硅陶瓷(β-Si₃N₄相比例分析)
5. 地质样品:火成岩(花岗岩/玄武岩)、变质岩(大理岩/片麻岩)、沉积岩(砂岩/页岩)
1. X射线衍射分析:ASTM E975-2020《Rietveld定量相分析标准指南》、GB/T 23413-2009《纳米材料晶粒尺寸测定》
2. 电子背散射衍射:ISO 24173:2023《EBSD取向测量方法》、GB/T 38889-2020《微束分析电子背散射衍射分析方法》
3. 扫描电镜观测:ISO 16700:2016《SEM图像放大倍率校准规范》、GB/T 27788-2020《微束分析扫描电镜能谱仪性能参数测试方法》
4. 透射电镜分析:ASTM E3061-2017《TEM选区衍射标定规程》、GB/T 35033-2018《纳米粒子尺寸测量透射电镜法》
5. X射线荧光光谱:ISO 12677:2011《耐火材料XRF化学分析法》、GB/T 21114-2019《耐火材料X射线荧光光谱压片法》
1. X射线衍射仪:PANalytical X'Pert³ Powder型,配备HighScore Plus软件,可实现0.0001°步进扫描
2. 场发射扫描电镜:Thermo Scientific Apreo 2型,配备Octane Elite EDS系统,分辨率达0.8nm@15kV
3. 电子探针显微分析仪:JEOL JXA-8530F Plus型,配备5道WDS光谱仪,元素分析范围B~U
4. 透射电子显微镜:FEI Talos F200X型,配备SuperX EDS系统,点分辨率0.12nm
5. X射线荧光光谱仪:Bruker S8 TIGER Series2型,4kW端窗铑靶管,可测元素范围Na-U
6. 激光拉曼光谱仪:HORIBA LabRAM HR Evolution型,532nm/785nm双激光源,光谱分辨率0.35cm⁻¹
7. 原子力显微镜:Bruker Dimension Icon型,ScanAsyst模式分辨率0.1nm,最大扫描范围90μm
8. 同步热分析仪:NETZSCH STA 449 F5 Jupiter®型,TG-DSC同步测量精度±0.1μg
9. 红外光谱仪:Thermo Nicolet iS50 FTIR型,配置ATR附件,光谱范围7800-350cm⁻¹
10.等离子体质谱仪:Agilent 8900 ICP-MS/MS型,质量数范围3-270amu,检出限达ppt级
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与矿相结构检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。