检测项目

1.晶面间距测量：精度0.001（0.1-10范围）

2.衍射角定位：分辨率0.001（5-120范围）

3.晶格常数计算：误差≤0.005%（立方/六方/四方晶系）

4.择优取向分析：ODF定量表征（Bunge表示法）

5.缺陷密度评估：位错密度测量范围10⁶-10/cm

检测范围

1.金属材料：铝合金/钛合金的晶体缺陷分析

2.半导体材料：SiC/GaN外延层取向测定

3.陶瓷材料：氧化锆相变定量分析

4.高分子材料：聚合物结晶度测定

5.纳米材料：量子点晶格应变测量

检测方法

1.ASTME2627-19X射线衍射法测定晶粒尺寸

2.ISO22278:2020陶瓷材料相组成分析方法

3.GB/T23414-2009微束分析电子背散射衍射方法

4.ISO24173:2019电子衍射花样标定规范

5.GB/T36075-2018纳米材料X射线衍射线宽法

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源

2.BrukerD8ADVANCEDavinci设计：HybridPixel探测器

3.ThermoFisherScios2双束电镜：EBSD分辨率≤0.1μm

4.MalvernPanalyticalEmpyrean：Gbel镜平行光系统

5.JEOLJSM-7900F场发射电镜：5nm@15kV空间分辨率

6.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：16001200像素

7.ProtoAXRD残余应力分析仪：Ψ角45自动扫描

8.ShimadzuXRD-7000：θ/θ测角仪0.0001精度

9.ZeissSigma500VP-SEM：低真空EBSD适配系统

10.PANalyticalX'Pert3MRD：高分辨率三轴测角仪

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与斑点衍射花样检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。