1.晶面间距测定:测量范围0.1-10nm,精度0.002nm
2.布拉格角计算:角度范围5-85,分辨率0.001
3.倒易空间映射:扫描步长0.01-0.5,三维重构精度98%
4.衍射强度分析:动态范围10^6:1,线性误差≤0.5%
5.晶格畸变评估:应变分辨率110^-4,空间分辨率50μm
1.金属合金:包括铝合金、钛合金、高温合金等
2.半导体材料:硅基芯片、GaN外延层、量子点结构
3.陶瓷材料:氧化锆、碳化硅、压电陶瓷
4.高分子晶体材料:聚乙烯单晶、液晶聚合物
5.纳米复合材料:石墨烯/金属复合体系、核壳结构纳米颗粒
1.X射线衍射法:ASTME1426-14(2021),GB/T23413-2009
2.电子背散射衍射:ISO24173:2023,GB/T38885-2020
3.中子衍射技术:ISO21474:2018
4.同步辐射表征法:GB/T36075.3-2018
5.透射电子显微术:ASTME3060-23
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备9kW旋转阳极靶,支持高/低温附件
2.BrukerD8Discover三维衍射系统:配置VANTEC-500探测器
3.TESCANMIRA4SEM-EBSD系统:空间分辨率达1nm
4.PANalyticalEmpyrean多功能衍射仪:支持SAXS/WAXS联用
5.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜:点分辨率0.05nm
6.MalvernPanalyticalX'Pert3MRDXL:配备五轴测角器
7.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器:采集速度4000点/秒
8.ProtoAXRD残余应力分析仪:ψ角范围45
9.BrukerD2PHASER台式衍射仪:θ/θ测角仪结构
10.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM:集成EDAXEBSD系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"倒易矢量检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。