聚合亚碲酸晶体检测

检测项目

1.纯度分析：采用电感耦合等离子体光谱法（ICP-OES）测定TeO₂含量≥99.5%，金属杂质总量≤0.03%

2.晶体结构表征：X射线衍射（XRD）验证晶胞参数a=5.210.02，c=12.450.03

3.热稳定性测试：热重分析（TGA）测定失重率≤0.5%（25-400℃区间）

4.元素比例测定：能量色散谱（EDS）确认Te:O:H原子比=1:3:20.05

5.表面形貌观测：扫描电镜（SEM）分析晶粒尺寸分布20-50μm占比≥85%

检测范围

1.半导体基底材料用亚碲酸单晶

2.非线性光学器件镀膜原料

3.水热法合成亚碲酸多晶粉末

4.CVD法制备纳米级晶体薄膜

5.高能射线探测用闪烁晶体坯料

检测方法

1.ASTME158-86(2021)金属氧化物纯度测试规程

2.ISO14720-1:2013非金属粉末元素分析方法

3.GB/T23274-2009二氧化碲化学分析方法

4.ISO20203:2006X射线衍射定量相分析标准

5.GB/T19421.12-2003晶体粒度分布测定规范

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，角度分辨率0.0001

2.PerkinElmerTGA8000热重分析仪：温度精度0.5℃，最大载重1.5g

3.ThermoScientificiCAPPROICP-OES：波长范围166-847nm，检出限0.1ppb

4.HitachiSU5000场发射扫描电镜：分辨率1nm@15kV，放大倍数20-800,000

5.BrukerD8ADVANCEXRD系统：配备LYNXEYEXE-T探测器，扫描速度5000deg/min

6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm，重复性误差＜1%

7.NetzschSTA449F5同步热分析仪：TG-DSC联用模式精度0.1μg

8.Agilent7900ICP-MS：质量数范围2-260amu，检出限达ppt级

9.OlympusBX53M偏光显微镜：配备DP27数码相机，放大倍率50-1000

10.ShimadzuUV-2600i分光光度计：波长范围185-900nm，带宽0.1-5nm可调

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"聚合亚碲酸晶体检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。