1.畴结构尺寸分布:测量单畴尺寸范围20-500nm,多畴体系平均间距≤3μm
2.畴壁厚度精度:铁磁材料畴壁厚度检测精度0.5nm(量程5-50nm)
3.磁畴取向偏差角:采用EBSD技术测定晶格取向偏差≤0.5
4.动态响应特性:交变磁场下(频率1Hz-1MHz)畴壁位移速率测量
5.能量损耗密度:量化单位体积磁滞损耗(0.1-100mJ/cm)
1.软磁合金:硅钢片、坡莫合金、非晶带材(厚度0.01-0.5mm)
2.永磁材料:钕铁硼(N52等级)、钐钴(SmCo5)、铁氧体(SrFe12O19)
3.铁电薄膜:PZT(Pb(Zr,Ti)O3)、BTO(BaTiO3)薄膜(厚度50-500nm)
4.半导体器件:MRAM存储单元、自旋阀结构(特征尺寸≥28nm)
5.磁性纳米颗粒:Fe3O4@SiO2核壳结构(粒径10-100nm)
1.ASTMA894/A894M-19:铁磁材料表面畴结构激光干涉评估法
2.ISO21747:2020磁性材料动态畴壁运动测试规范
3.GB/T12798-2021软磁合金带材封闭畴检测方法
4.IEC60404-16:2018永磁体微观磁畴X射线衍射分析法
5.GB/T38348-2019铁电薄膜极化畴PFM检测规程
1.FEINovaNanoSEM450:场发射扫描电镜配备EBSD探头(分辨率1nm)
2.BrukerDimensionIconAFM:压电力显微镜(PFM模式电压范围10V)
3.LakeShore7300系列振动样品磁强计(磁场强度3T,精度0.1%)
4.OxfordInstrumentsMicrostatHe氦循环低温系统(温控范围4-400K)
5.KeysightN5227A矢量网络分析仪(频率范围10MHz-67GHz)
6.HamamatsuC13340时间分辨PL测量系统(时间分辨率50ps)
7.ZEISSAxioImagerM2m金相显微镜(偏振模式精度λ/30)
8.RigakuSmartLabX射线衍射仪(小角散射模式q范围0.005-5⁻)
9.RHKTechnologyVT-STM扫描隧道显微镜(原子级表面形貌分析)
10.QuantumDesignPPMSDynaCool系统(综合物性测量平台)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与封闭畴检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。