分段位错检测

检测项目

1.位错密度测定：测量单位面积内位错线数量（10^4-10^12cm^-2），采用截面投影法计算三维密度

2.位错分布形态分析：评估均匀性指数（U.I.≥0.85）与聚集度系数（C.C.≤0.35）

3.位错尺寸特征表征：测量单个位错长度（50nm-10μm）及柏氏矢量模量（0.25-0.5nm）

4.界面位错网络观测：记录晶界/相界处位错节点密度（≥510^6m^-1）

5.动态位错行为监测：捕捉热循环（ΔT=300-800℃）下位错增殖速率（≥10^3cm^-2/s）

检测范围

1.单晶硅片（直径200-300mm）的滑移位错群

2.镍基高温合金涡轮叶片的蠕变位错

3.铝合金轧制板材的位错胞结构

4.钛合金骨科植入物的疲劳位错累积

5.GaN半导体外延层的穿透位错

检测方法

1.ASTME112-13：金相法测定晶粒度与位错蚀坑密度

2.ISO643:2019：透射电镜明场像位错统计规范

3.GB/T24177-2009：X射线衍射线形分析法

4.ASTMF47-21：电子背散射衍射(EBSD)晶格畸变测量

5.GB/T13298-2015：金属显微组织检验通则

6.GB/T13305-2008：奥氏体不锈钢α-马氏体相变位错观测

检测设备

1.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：配备OxfordEBSD探测器，空间分辨率1nm

2.FEITalosF200X透射电镜：STEM模式可实现0.16nm点分辨率

3.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪：配置Hi-Star二维探测器，角度精度0.0001

4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD系统：最大采集速度3000点/秒

5.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：峰值力轻敲模式分辨率0.2nm

6.ThermoScientificHeliosG4UX聚焦离子束：30kVGa+离子束制备TEM样品

7.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜：405nm激光实现三维形貌重构

8.NikonEclipseMA200倒置金相显微镜：配备DS-Fi3摄像头(500万像素)

9.KeysightG200纳米压痕仪：动态模量测量范围0.01-500GPa

10.上海光源SSRFBL14B1线站：同步辐射白光形貌术分辨率10μm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"分段位错检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。