1.相对介电常数(εr):测量频率范围1kHz-1MHz,精度0.5%
2.介质损耗角正切(tanδ):分辨率达110-5,温度范围-40C至200C
3.频率特性曲线:扫频测试0.1MHz-3GHz,步进精度0.1%
4.温度系数(TCC):温控精度0.5C,测试范围-60C至300C
5.击穿场强:直流/交流模式可选,电压范围0-50kV
1.高分子绝缘材料:聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亚胺薄膜等
2.陶瓷介质材料:氧化铝(Al2O3)、钛酸钡基陶瓷等
3.半导体材料:硅晶圆、碳化硅(SiC)基板等
4.复合材料:玻璃纤维增强环氧树脂、纳米掺杂聚合物等
5.液体电介质:变压器油、硅基冷却液等
ASTMD150-18:平行板电容法测定固体材料介电特性
IEC60250:1969:射频段介质损耗测量标准方法
GB/T1409-2006:工频下固体绝缘材料介电性能测试
ISO6721-2:2019:动态介电分析(DETA)技术规范
GB/T1693-2007:硫化橡胶介电常数测定方法
1.KeysightE4990A阻抗分析仪:频率范围20Hz至120MHz,支持多参数同步测量
2.NovocontrolAlpha-A高频介电谱仪:频率范围10μHz至20MHz,温控精度0.1C
3.Agilent4294A精密阻抗分析仪:40Hz至110MHz宽频测试,基本精度0.08%
4.HiokiIM3570阻抗分析仪:4Hz至5MHz频率范围,支持薄膜材料测试夹具
5.TREK610E高压放大器:输出电压0-20kV,用于击穿场强测试
6.ESPECPCT-322温控箱:温度范围-70C至+180C,支持循环温变测试
7.QuadTech7600精密LCR表:基本精度0.05%,支持四端对测量模式
8.NetzschDETA241介电分析仪:频率范围10-4-107Hz,集成自动样品台
9.MeggerIDAX-300绝缘诊断系统:支持10nF至100μF电容测量
10.GWInstekLCR-8105G:20Hz至200kHz宽频测试,标配三电极测试夹具
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"电介常数检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。