1.晶粒尺寸分析:测量范围0.1-500μm,精度2%
2.结晶度测定:XRD法误差≤1%,DSC法误差≤3%
3.相组成鉴定:可识别含量≥0.5%的物相
4.热稳定性测试:TG-DSC联用温度范围25-1500℃
5.晶体缺陷表征:分辨率达0.1nm的位错密度分析
1.金属合金:钛合金/铝合金/高温合金的凝固组织分析
2.半导体材料:单晶硅/氮化镓的位错密度测定
3.陶瓷材料:氧化锆/碳化硅的晶界特性研究
4.高分子材料:聚乙烯/聚丙烯的结晶度控制
5.药物晶体:活性成分的多晶型鉴别
1.X射线衍射(XRD):ASTME975-20/GB/T23413-2009
2.扫描电子显微镜(SEM):ISO16700:2016/GB/T27788-2020
3.差示扫描量热(DSC):ISO11357-1:2016/GB/T19466.1-2004
4.透射电子显微镜(TEM):ASTME2090-19/GB/T36421-2018
5.热重分析(TGA):ISO11358:2022/GB/T4498.1-2013
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:9kW旋转阳极靶,2θ范围-10~168
2.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV
3.TAInstrumentsDSC250差示扫描量热仪:温度精度0.1℃
4.FEITalosF200X透射电镜:STEM分辨率0.16nm
5.NetzschSTA449F5同步热分析仪:最大升温速率50K/min
6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
7.BrukerD8ADVANCEXRD系统:VANTEC-1探测器
8.ShimadzuXRD-7000衍射仪:θ/θ测角仪系统
9.HitachiRegulus8230冷场发射SEM:加速电压0.5-30kV
10.PerkinElmerPyris1TGA热重分析仪:称量精度0.1μg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与结晶材料检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。