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结晶材料检测

  • 原创官网
  • 2025-04-09 09:30:47
  • 关键字:结晶材料测试周期,结晶材料测试方法,结晶材料测试案例
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结晶材料检测概述:结晶材料检测是评估材料微观结构和性能的重要手段,涉及晶体形貌、相组成、热稳定性等核心参数。通过标准化方法对金属合金、半导体及高分子材料等进行精确分析,确保其满足工业应用要求。本文系统介绍关键检测项目、适用材料范围、国际/国家标准及先进设备配置。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.晶粒尺寸分析:测量范围0.1-500μm,精度2%

2.结晶度测定:XRD法误差≤1%,DSC法误差≤3%

3.相组成鉴定:可识别含量≥0.5%的物相

4.热稳定性测试:TG-DSC联用温度范围25-1500℃

5.晶体缺陷表征:分辨率达0.1nm的位错密度分析

检测范围

1.金属合金:钛合金/铝合金/高温合金的凝固组织分析

2.半导体材料:单晶硅/氮化镓的位错密度测定

3.陶瓷材料:氧化锆/碳化硅的晶界特性研究

4.高分子材料:聚乙烯/聚丙烯的结晶度控制

5.药物晶体:活性成分的多晶型鉴别

检测方法

1.X射线衍射(XRD):ASTME975-20/GB/T23413-2009

2.扫描电子显微镜(SEM):ISO16700:2016/GB/T27788-2020

3.差示扫描量热(DSC):ISO11357-1:2016/GB/T19466.1-2004

4.透射电子显微镜(TEM):ASTME2090-19/GB/T36421-2018

5.热重分析(TGA):ISO11358:2022/GB/T4498.1-2013

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:9kW旋转阳极靶,2θ范围-10~168

2.ZEISSSigma500场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV

3.TAInstrumentsDSC250差示扫描量热仪:温度精度0.1℃

4.FEITalosF200X透射电镜:STEM分辨率0.16nm

5.NetzschSTA449F5同步热分析仪:最大升温速率50K/min

6.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm

7.BrukerD8ADVANCEXRD系统:VANTEC-1探测器

8.ShimadzuXRD-7000衍射仪:θ/θ测角仪系统

9.HitachiRegulus8230冷场发射SEM:加速电压0.5-30kV

10.PerkinElmerPyris1TGA热重分析仪:称量精度0.1μg

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与结晶材料检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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