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本征连接损耗检测

  • 原创官网
  • 2025-04-10 15:40:55
  • 关键字:本征连接损耗项目报价,本征连接损耗测试周期,本征连接损耗测试方法
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本征连接损耗检测概述:本征连接损耗检测是评估光纤连接器件性能的核心指标之一,主要针对折射率匹配度、端面几何参数及材料特性进行量化分析。检测涵盖纤芯同心度、端面曲率半径、角度偏差等关键参数,需严格遵循ISO/IEC61300-3-34及GB/T9771标准要求,确保数据可追溯性与测量重复性误差≤±0.1dB。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.折射率匹配偏差:测量值≤0.02%@1550nm波长

2.端面角度偏差:APC型≤0.5,UPC型≤0.3

3.纤芯同心度误差:单模光纤≤0.5μm

4.端面曲率半径:PC型10-25mm,APC型5-15mm

5.插入损耗重复性:插拔100次后变化量≤0.2dB

检测范围

1.FC/PC型光纤连接器

2.SC/APC型陶瓷插芯组件

3.LC/UPC型高密度连接系统

4.MTP/MPO多芯阵列连接器

5.单模/多模光纤跳线(G.652D/G.651)

检测方法

ASTMD4566-18光纤几何参数测量规范

ISO/IEC61755-3-12端面三维形貌分析法

GB/T15972.20-2021光纤试验方法第20部分:尺寸参数测量

TIA/EIA-455-203-B干涉仪法曲率半径测试

YD/T2157-2021光纤活动连接器插损测试规程

检测设备

1.EXFOFTB-200OTDR测试仪:动态范围45dB@3μs脉冲宽度

2.VeecoNT9100白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm

3.AFLFOCIS系列插回损测试系统:重复精度0.02dB

4.SumixSMX-3000光纤端面检测仪:500万像素CMOS传感器

5.Agilent8163B可调谐激光源:波长范围1260-1640nm

6.ThorlabsPAX5710偏光分析仪:偏振消光比测量精度0.1dB

7.FujikuraCT30切割刀:端面角度控制0.1

8.NoyesMTS-800多轴对准系统:定位精度0.05μm

9.ViaviMTS-6000光谱分析模块:分辨率带宽0.01nm

10.KeysightN7788B偏振控制器:响应时间<50μs

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与本征连接损耗检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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