本征连接损耗检测

检测项目

1.折射率匹配偏差：测量值≤0.02%@1550nm波长

2.端面角度偏差：APC型≤0.5，UPC型≤0.3

3.纤芯同心度误差：单模光纤≤0.5μm

4.端面曲率半径：PC型10-25mm，APC型5-15mm

5.插入损耗重复性：插拔100次后变化量≤0.2dB

检测范围

1.FC/PC型光纤连接器

2.SC/APC型陶瓷插芯组件

3.LC/UPC型高密度连接系统

4.MTP/MPO多芯阵列连接器

5.单模/多模光纤跳线（G.652D/G.651）

检测方法

ASTMD4566-18光纤几何参数测量规范

ISO/IEC61755-3-12端面三维形貌分析法

GB/T15972.20-2021光纤试验方法第20部分：尺寸参数测量

TIA/EIA-455-203-B干涉仪法曲率半径测试

YD/T2157-2021光纤活动连接器插损测试规程

检测设备

1.EXFOFTB-200OTDR测试仪：动态范围45dB@3μs脉冲宽度

2.VeecoNT9100白光干涉仪：垂直分辨率0.1nm

3.AFLFOCIS系列插回损测试系统：重复精度0.02dB

4.SumixSMX-3000光纤端面检测仪：500万像素CMOS传感器

5.Agilent8163B可调谐激光源：波长范围1260-1640nm

6.ThorlabsPAX5710偏光分析仪：偏振消光比测量精度0.1dB

7.FujikuraCT30切割刀：端面角度控制0.1

8.NoyesMTS-800多轴对准系统：定位精度0.05μm

9.ViaviMTS-6000光谱分析模块：分辨率带宽0.01nm

10.KeysightN7788B偏振控制器：响应时间＜50μs

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"本征连接损耗检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。