1.棱边直线度误差:测量轴线偏移量≤0.02mm/m(基于ISO1101:2017)
2.棱角角度偏差:允许公差0.5(参照GB/T1800.3-2020)
3.表面粗糙度Ra值:控制范围0.1-0.4μm(按ISO4287:1997评定)
4.崩边缺陷尺寸:最大允许长度≤50μm(依据SEMIM12-0709标准)
5.倒角半径一致性:公差带0.02mm(适用ASTMF534-2021)
1.半导体晶圆(硅/碳化硅/氮化镓)切割棱边
2.光学透镜(熔融石英/氟化钙)抛光棱缘
3.蓝宝石衬底(LED用)C面加工边缘
4.压电晶体(石英/铌酸锂)定向切割面
5.激光晶体(YAG/钒酸钇)端面倒角
1.接触式测量:执行GB/T1958-2017《产品几何量技术规范》三坐标法
2.白光干涉法:采用ISO25178-604:2013表面结构分析标准
3.激光共聚焦:依据ASTME2544-11a三维形貌重建规范
4.X射线衍射:满足GB/T8362-2018晶体取向测定要求
5.电子显微镜:按ISO16700:2016进行微区缺陷表征
1.MitutoyoCrysta-ApexS三坐标测量机:分辨率0.1μm,配备RENISHAWSP25M扫描探头
2.BrukerContourElite白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,支持ISO25178参数组
3.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:1200万像素CCD,Z轴重复精度5nm
4.ZeissSigma500场发射电镜:配备OxfordEBSD系统,空间分辨率1.5nm
5.PanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:Cu靶光源,角度重复性0.0001
6.OlympusSTM7测量显微镜:20X-2000X连续变倍物镜,数字测微目镜精度0.5μm
7.TaylorHobsonFormTalysurfi系列轮廓仪:120mm行程量程,符合ASMEB46.1标准
8.HexagonAbsoluteArm7轴测量臂:激光扫描速率50,000点/秒,体积精度28μm
9.NikonNEXIVVMZ-S4540视频测量系统:双远心镜头,XY轴线性精度(2.5+4L/1000)μm
10.ShimadzuEZ-SX微力试验机:载荷范围0.01N-500N,用于崩边强度测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与晶体棱边检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。