1.电导率测试:测量表面电阻率(10-6-1012Ωcm)与体积电阻率(ASTMD257)
2.热膨胀系数分析:温度范围-70℃~300℃,精度0.1μm/m℃(ISO11359-2)
3.介电性能测试:介电常数(1kHz-1MHz)、损耗因子(IEC60250)
4.机械强度测试:拉伸强度(0.1-500MPa)、弯曲模量(GB/T9341)
5.化学成分分析:元素含量(ppm级精度)、异物鉴定(EDS+SEM联用)
1.半导体材料:硅晶圆、GaN衬底、碳化硅基板
2.导电胶粘剂:各向异性导电胶(ACP)、银浆
3.封装材料:环氧模塑料(EMC)、底部填充胶
4.磁性材料:铁氧体磁芯、纳米晶合金带材
5.PCB基材:FR-4覆铜板、聚酰亚胺柔性基板
1.四探针法测电阻率:ASTMF390-20
2.动态热机械分析:ISO6721-11:2019
3.高频介电测试:GB/T1409-2006
4.X射线荧光光谱法:JISK0119:2017
5.热重-差示扫描量热联用:GB/T19466.3-2004
1.四探针测试仪:RTS-9型(电阻率测量范围10-4-106Ωcm)
2.热膨胀系数测试仪:NETZSCHDIL402Expedis(温度分辨率0.1℃)
3.矢量网络分析仪:KeysightN5227B(频率范围10MHz-67GHz)
4.万能材料试验机:Instron5967(最大载荷50kN)
5.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha+(能量分辨率<0.5eV)
6.扫描电子显微镜:HitachiSU5000(分辨率1nm@15kV)
7.傅里叶红外光谱仪:PerkinElmerFrontier(波数范围7800-350cm-1)
8.高低温湿热试验箱:ESPECPL-3KPH(温度范围-70℃~150℃)
9.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描精度0.1nm)
10.电感耦合等离子体质谱仪:Agilent8900ICP-MS(检出限ppt级)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与电子材料检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。