


概述:球差电镜(SphericalAberrationCorrectedElectronMicroscope)是一种高分辨率透射电子显微镜技术,通过校正球面像差实现原子级成像与分析。其核心检测要点包括样品制备规范性、电子光学系统校准精度、图像分辨率验证(≤0.1nm)、元素分析灵敏度(EDS检测限≤0.1at%)及电子能量损失谱(EELS)能量分辨率(≤0.3eV)。适用于纳米材料、半导体器件等微观结构表征。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.原子分辨率成像:分辨率≤0.1nm(STEM-HAADF模式)
2.元素成分分析:EDS面扫精度0.5wt%,元素探测限≤0.1at%
3.晶体结构解析:选区电子衍射(SAED)晶面间距测量误差≤0.002nm
4.电子能量损失谱:EELS能量分辨率≤0.3eV(零损失峰半高宽)
5.三维重构分析:层析成像角度范围70,切片厚度≤1nm
1.纳米材料:量子点、碳纳米管、二维材料(石墨烯/MoS2)
2.半导体器件:FinFET结构、III-V族异质结、存储单元界面
3.金属材料:高熵合金晶界结构、析出相成分分布
4.催化剂材料:贵金属负载型催化剂颗粒分散度(≤0.5nm)
5.生物样品:冷冻固定蛋白质复合体(低温样品台-170℃)
ASTME986-04(2019)扫描电镜操作标准化规程
ISO16700:2016微束分析-扫描电镜校准方法
GB/T27788-2020微束分析扫描电镜图像放大倍率校准
ISO25498:2018微束分析电子显微镜选区电子衍射法
GB/T36422-2018微束分析电子能量损失谱分析方法通则
1.ThermoScientificTitanThemisZ:双球差校正器,信息分辨率0.06nm
2.JEOLARM-300F:冷场发射枪,STEM分辨率0.078nm
3.FEISpectra300:单色化电子源,EELS能量分辨率0.15eV
4.HitachiHF5000:六极球差校正系统,最大加速电压200kV
5.NionHERMES-100:超高能量分辨率EELS(<30meV)
6.ZeissLibra200MC:CCD相机系统(4k4k像素)
7.GatanK3-IS:直接电子探测器,帧率1600fps
8.FischioneModel2060:低温样品台(-196℃~600℃)
9.BrukerQuantaxEDS:硅漂移探测器(SDD)有效面积100mm
10.GatanGIFQuantumER:能量过滤成像系统(能量分辨率0.3eV)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"球差电镜"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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