透射电子显微镜(TEM-EDS测试)

检测项目

1.晶体结构分析：选区电子衍射（SAED）模式，最小选区直径50nm；高分辨晶格成像（HRTEM）分辨率≤0.1nm

2.元素成分分析：EDS探测器能量分辨率≤127eV（Mn-Kα），元素检测范围B5-U92

3.微区成分分布：线扫描步长最小1nm；面分布像素分辨率2nm2nm

4.缺陷表征：位错密度测量精度10^6/cm；层错能计算误差≤5%

5.厚度测量：电子能量损失谱（EELS）厚度标定范围10-200nm

检测范围

1.金属材料：铝合金析出相表征（尺寸＜10nm）、高温合金γ'相成分梯度分析

2.半导体器件：FinFET栅极界面氧化层厚度测量（＜3nm）、量子点元素偏聚分析

3.陶瓷材料：ZrO2相变区域晶格畸变观测、SiC晶界非晶层厚度测定

4.高分子材料：嵌段共聚物微区元素分布成像（空间分辨率5nm）

5.生物样品：病毒颗粒表面蛋白标记元素定位（Pt/Ir标记法）

检测方法

1.ASTME1508-12：微束分析标准操作规范（加速电压校准0.5kV）

2.ISO16700:2016：TEM图像放大倍率校准方法（标准样品SRM2060a）

3.GB/T17359-2020：微束分析能谱定量分析通则（ZAF修正误差≤3%）

4.ISO25498:2018：选区电子衍射标定规程（相机常数误差0.5%）

5.GB/T36065-2018：纳米材料透射电子显微镜表征方法通则

检测设备

1.JEOLJEM-ARM300F：冷场发射枪，球差校正TEM，点分辨率0.08nm

2.ThermoScientificSpectra300：单色器配置，能量分辨率0.15eV@200kV

3.HitachiHF5000：相位板成像系统，支持冷冻生物样品直接观察

4.FEITitanG260-300：S-TWIN物镜系统，STEMHAADF分辨率0.12nm

5.ZeissLibra200MC：in-column能量过滤器，电子能量损失谱采集时间＜1ms/pixel

6.JEOLJEM-F200：冷场发射+肖特基双源系统，束流稳定性0.2%/h

7.ThermoFisherTalosF200X：4通道SDD探测器，最大计数率500kcps

8.HitachiHT7800：高对比度模式设计，支持低原子序数元素成像（C/N/O）

9.FEITecnaiG2F20：双倾样品台倾转范围40，配备GatanOriusSC200相机

10.JEOLJEM-2100Plus：LaB6灯丝系统，配备OxfordX-MaxN150TLE能谱仪

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"透射电子显微镜(TEM-EDS测试)"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。