1. 插入损耗:波长范围1260~1650nm,典型值≤3.0dB
2. 消光比:工作频段≥25dB
3. 3dB带宽:高频响应≥40GHz
4. 偏振相关损耗(PDL):全波段≤0.5dB
5. 温度稳定性:-40℃~+85℃范围内参数漂移≤±10%
1. 硅基马赫-曾德尔强度调制器
2. 微环谐振相位调制器
3. 电吸收调制器(EAM)
4. 聚合物填充型混合集成器件
5. 氮化硅波导高速调制芯片
1. IEC 61754-20:2019光纤连接器接口标准(插入损耗测试)
2. ISO/IEC 14763-3:2014光衰减测量规范
3. GB/T 15972.32-2021光纤试验方法(温度循环试验)
4. ASTM F2213-18偏振相关损耗测量规程
5. GB/T 18311.34-2016光纤器件高频特性测试
1. Keysight N4373D光波元件分析仪(40GHz带宽测试)
2. EXFO FTB-5240S光谱分析仪(C+L波段扫描)
3. Luna Innovations OVA5000偏振分析系统(PDL测量)
4. Tektronix AWG70002A任意波形发生器(驱动信号生成)
5. Newport TEC-500L温控箱(-60~+150℃温循测试)
6. Agilent 81600B可调谐激光源(波长精度±0.1nm)
7. Thorlabs PM100D光功率计(-70~+10dBm量程)
8. Anritsu MP2110A误码率测试仪(25Gbps信号分析)
9. Viavi MTS-8000多业务测试平台(眼图分析)
10. OZ Optics PM-700偏振控制器(SOP调节)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与硅光纤调制器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。