检测项目

1. BET比表面积：基于多层吸附理论测定总比表面积（范围0.0001-2000 m²/g）

2. Langmuir比表面积：单层吸附模型计算理论值（适用微孔材料）

3. 总孔体积：累计孔隙容积测量（精度±0.5%）

4. 平均孔径分布：孔径范围0.35-500 nm分级分析

5. 吸附/脱附等温线：77K氮气吸附条件下IV型曲线表征

6. t-Plot微孔分析：区分微孔与外表面积贡献度

7. BJH介孔分布：2-50 nm孔径分布计算模型

检测范围

1. 金属粉末：钛合金、铝粉等增材制造原料

2. 陶瓷粉末：氧化铝、碳化硅等高温结构材料

3. 催化剂：分子筛、贵金属负载型催化剂

4. 纳米材料：石墨烯、碳纳米管等二维/一维材料

5. 医药粉末：API原料药、药用辅料粉体

6. 电池材料：正负极材料、固态电解质粉体

7. 环境吸附剂：活性炭、硅胶干燥剂

检测方法

1. BET法：ASTM D3663-03(2020)/GB/T 19587-2017

2. 动态流动法：ASTM D4567-03/GB/T 21650.2-2008

3. 压汞法：ASTM D4404-18/GB/T 21650.3-2011（大孔分析）

4. 小角X射线散射(SAXS)：ISO 17867:2020（纳米级孔隙）

5. 低温氮吸附法：GB/T 35208-2017（77K恒温控制）

6. 氪气吸附法：ASTM D6556-19（超低比表面＜1m²/g）

7. 重量蒸气吸附法：ISO 9277:2022（水蒸气吸附特性）

检测设备

1. Micromeritics ASAP 2460：全自动比表面及孔隙度分析仪（四站式）

2. Quantachrome NovaTouch LX4：多站气体吸附仪（微孔分辨率0.35nm）

3. Anton Paar SAXSess mc²：小角X射线散射仪（q范围0.06-28nm⁻¹）

4. Thermo Scientific SurPASS 3：电动电位及孔径分析系统

5. BEL Japan BELMaster-PD：高精度真空系统（压力分辨率10⁻8Pa）

6. JW-BK200C型动态法比表面仪（符合GB/T 21650系列标准）

7. Micromeritics TriStar II Plus：三站式物理吸附仪（P/P₀范围10⁻7-0.995）

8. Quantachrome PoreMaster 60 GT：全自动压汞仪（压力413MPa）

9. Beijing精微高博JW-RB系列静态容量法分析仪（双站独立测试）

10. Shimadzu Gemini VII 2390：快速比表面分析系统（单点BET模式）