检测项目

波导插入损耗：C波段（1530-1565nm）全波长扫描，单通道损耗≤0.5dB

波长隔离度：相邻通道隔离度≥25dB@50GHz间隔

偏振相关损耗（PDL）：全温域（-40℃~+85℃）PDL≤0.2dB

回波损耗：输入端RL≥50dB，输出端RL≥45dB

长期光稳定性：85℃/85%RH条件下持续加载50mW光功率≥1000小时

检测范围

硅基光子集成波导器件：包括SOI（Silicon-on-Insulator）和SiN混合集成结构

聚合物光波导材料：PMMA、SU-8等有机-无机复合波导

铌酸锂调制型耦合器：基于LiNbO

3

光纤阵列耦合组件：含V型槽与透镜结构的FAU模块

III-V族半导体波导器件：InP基多量子阱结构光合波器

检测方法

ISO/IEC 61280-2-2:2012：光纤器件插入损耗的统计评估法

Telcordia GR-1209-CORE：无源光器件通用可靠性验证标准

IEC 61300-3-35:2015：偏振相关损耗的斯托克斯参数法

ASTM E1028-15：光谱响应曲线拟合分析方法

GB/T 18311.3-2021：光器件机械振动与冲击测试规范

检测设备

高精度光谱分析系统：Yokogawa AQ6370D（波长精度±10pm）

偏振综合测试平台：Keysight N7788B（支持PDL实时分析）

可编程光衰减系统：Santec OVA-5000（动态范围0-60dB）

多轴对准耦合平台：Newport AG-LS25（定位精度±0.1μm）

环境应力测试箱：Espec SH-642（-70℃~+180℃温循控制）

技术优势

CNAS认可实验室（注册号详情请咨询工程师）：测试数据获ILAC-MRA国际互认

ISO/IEC 17025:2017体系认证：检测不确定度评定达U=0.05dB(k=2)

全矢量仿真能力：基于Lumerical FDTD的波导模式匹配验证

失效分析实验室：配备SEM/EDX系统实现亚微米级缺陷定位

自动化测试系统：可编程GPIB总线控制实现72小时连续测试