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排针测试

  • 原创官网
  • 2025-02-20 09:20:21
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排针测试概述:排针测试是电子元器件质量控制的核心环节,主要针对接触电阻、绝缘性能、机械强度及耐久性等关键参数进行系统性检测。本文依据ISO16750、ASTMB539等国际标准,解析排针的电气特性验证、插拔力分析、环境适应性测试等核心项目,涵盖汽车电子、工业设备等领域的检测技术规范,确保产品符合高可靠性应用场景的技术要求。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

接触电阻测试:测量范围0.1mΩ-10Ω,测试电流1A-5A(依据EIA-364-06)

绝缘电阻测试:DC 500V电压下>100MΩ(符合IEC 60512-2)

插拔力测试:最大50N精度±0.5%,循环次数>10,000次(ASTM D4566)

温升试验:-55℃~+125℃温控精度±1℃,监测触点ΔT≤30K

盐雾腐蚀测试:5%NaCl溶液,持续96小时(ISO 9227中性盐雾标准)

检测范围

高密度PCB排针:间距0.5mm-2.54mm,Pin数8-64位

车规级排针:满足USCAR-2振动标准及LV214耐化学试剂要求

防水型排针:IP67/IP68防护等级验证(IEC 60529)

高温合金排针:磷青铜/铍铜材质金相分析及屈服强度测试

射频同轴排针:特性阻抗50Ω±5%,驻波比<1.5(1-6GHz)

检测方法

四端子法电阻测量:采用Kelvin夹持消除接触误差(ASTM B539)

动态插拔模拟:伺服电机驱动,速度0.1-100mm/min可调(ISO 21368-1)

X射线镀层检测:镀金厚度0.05-0.5μm,镍底层>1.2μm(IPC-4552B)

三维形变分析:激光扫描精度±2μm,检测端子共面度

HALT加速寿命测试:多轴振动台结合温度冲击(MIL-STD-810G)

检测设备

Keysight 34461A:6½位数字万用表,最小分辨率100nΩ

Instron 5943:双立柱万能试验机,50N-5kN量程

Chroma 19032:5kV耐压测试仪,漏电流检测下限0.1μA

Olympus DSX1000:20-5000倍数码显微镜,3D表面重建功能

ESPEC SH-641:复合环境试验箱,支持温湿度循环与低气压测试

技术优势

CNAS认可实验室(注册号:详情请咨询工程师),检测报告全球互认

配备NIST可追溯的计量标准器具,年校准偏差<0.02%

15年行业经验的技术团队,主导制定3项连接器行业标准

拥有汽车电子AEC-Q200全项检测能力

应用有限元仿真技术预判结构失效风险点

  以上是与排针测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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