1. 正向导通电压(VF):测量阈值范围0.2V-1.5V@IF=10mA
2. 反向击穿电压(VRRM):测试范围50V-1000V@IR=10μA
3. 动态响应时间(trr):纳秒级测试精度(典型值<50ns)
4. 温度特性系数:-55℃至+150℃温变条件下的VF漂移量
5. 漏电流(IR):反向偏压80%VRRM时测量值≤1μA
6. 结电容(Cj):高频段(1MHz)测试范围0.5pF-50pF
1. 硅基平面型削波二极管(1N4148系列)
2. 锗合金型限幅二极管(OA系列)
3. 肖特基势垒削波器件(BAT54系列)
4. TVS瞬态抑制二极管(P6KE系列)
5. 快恢复型削波模块(FR10x系列)
6. 微波频段PIN限幅器(MA4P504系列)
GB/T 6571-2019《半导体器件分立器件测试方法》第7章正向特性测试
IEC 60747-1:2006《半导体器件分立器件第1部分:总则》第IV节击穿电压测试
ASTM F1246-21《半导体开关器件动态参数测试标准》第5章反向恢复时间测量
GB/T 17573-2021《半导体器件分立器件和集成电路第1部分:总则》温度循环试验
ISO 16750-4:2018《道路车辆电气电子设备环境条件》振动冲击试验条款
JESD22-A108F《电子器件加速寿命试验标准》高温反偏试验程序
Keysight B1505A功率器件分析仪:支持2000V/100A脉冲测试,满足VRRM和trr测量需求
Tektronix AFG31000任意波形发生器:25MHz带宽输出削波波形激励信号
Chroma 19032耐压测试仪:AC/DC 5kV绝缘强度及漏电流测试
ESPEC PL-3KPH温控箱:-70℃至+180℃精确温变控制
Rohde&Schwarz RTO2044示波器:4GHz带宽捕获ns级瞬态响应
Agilent E4980A LCR表:1MHz频率下Cj参数精密测量
EM TEST UCS500N静电放电模拟器:IEC 61000-4-2标准ESD抗扰度测试
B&K 4809振动台:10Hz-2000Hz随机振动谱模拟机械应力
Fluke 8846A高精度数字万用表:六位半分辨率测量μA级漏电流
HIOKI IM3536阻抗分析仪:4端对法测量结电容非线性特性
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与二极管削波器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。