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菲涅耳区检测

  • 原创官网
  • 2025-04-23 10:35:13
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菲涅耳区检测概述:菲涅耳区检测是评估光学元件表面性能的关键技术,主要针对反射率、透射率及散射特性等核心参数进行量化分析。该检测适用于激光系统、通信设备及精密光学仪器等领域,需通过高精度仪器和国际标准方法验证材料的光学均匀性、表面粗糙度及折射率分布等指标。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1. 菲涅耳区反射率:波长范围250-2500nm,入射角5°-85°,精度±0.5%

2. 透射率均匀性:可见光波段(380-780nm)透过率偏差≤±1.2%

3. 表面粗糙度:Ra≤0.1μm(取样长度0.8mm),波纹度Wz≤λ/20

4. 折射率分布:测量精度±0.0005(@632.8nm),温度稳定性±0.1℃

5. 散射特性:角度分辨率0.1°,动态范围10^-3~10^-9 sr^-1

检测范围

1. 光学玻璃:包括熔融石英、BK7、SF11等材质透镜/棱镜

2. 金属镀膜材料:铝/银/金反射镜(膜厚50-500nm)

3. 高分子薄膜:PET/PC基材抗反射涂层(厚度2-200μm)

4. 半导体材料:砷化镓/磷化铟晶圆(直径≤300mm)

5. 陶瓷基复合材料:氮化硅/氧化铝光学窗口(耐温≥1500℃)

检测方法

ASTM E903-2020 材料太阳吸收比测试方法

ISO 13696:2002 光学元件散射特性测量规范

GB/T 26331.1-2010 光学薄膜表面粗糙度测量规程

ISO 10110-5:2015 光学元件折射率均匀性评价标准

GB/T 11168-2022 光学材料光谱透射比测试方法

检测设备

1. PerkinElmer Lambda 1050+分光光度计:波长175-3300nm全波段分析

2. Bruker ContourGT-X8表面轮廓仪:垂直分辨率0.01nm

3. Horiba Jobin Yvon UVISEL 2椭偏仪:宽光谱(190-2100nm)折射率测量

4. Schmitt C-RED 2红外热像仪:3-5μm波段热辐射特性分析

5. Zygo Verifire MST干涉仪:Φ300mm口径面形精度λ/50 PV值

6. OptoSurf C500散射测量系统:角度覆盖±85°,最小可测BSDF值10^-7 sr^-1

7. Agilent Cary 7000全能型分光光度计:支持VW/VN测量模式切换

8. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪:最大行程350mm, Z轴分辨率1nm

9. Newport Oriel IQE-200量子效率测试系统:光谱响应度标定

10. Thorlabs PAX1000偏振分析仪:消光比测量精度±0.05°

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与菲涅耳区检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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