1. 结晶相含量测定:α-石英/方石英/鳞石英定量分析(XRD法测定精度±0.5%)
2. 游离二氧化硅含量:可吸入颗粒物中SiO₂晶体占比(GBZ/T 192.4-2007)
3. 粒径分布特征:D10/D50/D90粒径参数(激光粒度仪测量范围0.1-3500μm)
4. 晶型结构鉴定:XRD特征峰匹配度(2θ=20.8°、26.6°特征峰识别)
5. 表面形貌分析:SEM成像分辨率≤3nm(放大倍数10-100万倍)
1. 建筑材料:混凝土骨料、人造石材、耐火砖
2. 陶瓷制品:釉料原料、结构陶瓷坯体
3. 电子材料:硅晶圆表面处理剂、半导体封装材料
4. 化工产品:白炭黑填料、橡胶补强剂
5. 冶金材料:铸造用型砂、金属脱氧剂
1. X射线衍射法:ASTM D7634-10《石英定量分析》、GB/T 23263-2009
2. 红外光谱法:ISO 19749:2021纳米颗粒表征、GBZ/T 300.16-2017
3. 热重分析法:ISO/TR 17276:2014结合水含量测定
4. 扫描电镜法:ISO 19749:2021形貌表征标准
5. 激光散射法:ISO 13320:2020粒度分布测定规范
1. X射线衍射仪:Rigaku SmartLab 9kW(2θ精度±0.0001°)
2. 傅里叶红外光谱仪:Thermo Nicolet iS50(分辨率0.09cm⁻¹)
3. 场发射扫描电镜:Hitachi SU8220(二次电子分辨率0.8nm)
4. 激光粒度分析仪:Malvern Mastersizer 3000(测量范围0.01-3500μm)
5. 同步热分析仪:NETZSCH STA 449 F5(TG精度±0.1μg)
6. 拉曼光谱仪:Horiba LabRAM HR Evolution(空间分辨率200nm)
7. X荧光光谱仪:Shimadzu EDX-7000(元素分析范围Be-U)
8. 超声波分散仪:Sonics VCX750(频率20kHz,功率750W)
9. 微波消解仪:CEM MARS6(温度范围0-300℃)
10. 离心沉降仪:Bettersize BT-9300ST(转速0-3000rpm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与结晶二氧化硅检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。