1.元素成分分析:测定样品中Fe、Cu、Al等金属元素含量(波长范围200-900nm,检出限0.1-10ppm)
2.分子结构鉴定:识别C-H(2800-3100cm⁻)、O-H(3200-3600cm⁻)等官能团振动峰
3.晶体结构分析:测定晶面间距(0.1-10nm),半峰宽≤0.02
4.薄膜厚度测量:精度0.5nm(测量范围1nm-100μm)
5.荧光量子产率:相对误差<2%(激发波长250-800nm)
1.金属材料:铝合金(AA6061)、钛合金(Ti-6Al-4V)等
2.半导体材料:硅片(掺杂浓度1E15-1E20atoms/cm)、GaN外延层
3.高分子材料:聚乙烯(密度0.91-0.96g/cm)、聚碳酸酯(透光率≥88%)
4.药品及中间体:阿司匹林(纯度≥99.5%)、头孢类原料药
5.环境样品:土壤重金属(Pb≤80mg/kg)、水质COD(检出限5mg/L)
1.ASTME1252-17红外光谱法定性分析标准规程
2.ISO14707:2015辉光放电光谱法表面分析技术规范
3.GB/T223.75-2008钢铁X射线荧光光谱测定多元素含量
4.GB/T6040-2019分子吸收分光光度法通则
5.ISO21258:2010激光诱导击穿光谱法测定金属杂质
1.ThermoScientificNicoletiS50FT-IR光谱仪:分辨率0.09cm⁻,扫描速度20次/秒
2.Agilent725ICP-OES:波长范围167-785nm,RF功率1200-1500W
3.BrukerD8ADVANCEXRD:角度精度0.0001,2θ范围3-160
4.PerkinElmerLambda950UV-Vis:光度精度0.0003A,杂散光<0.00007%
5.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率250nm,激光波长532/785nm
6.ShimadzuRF-6000荧光分光光度计:扫描速度30000nm/min,信噪比>800:1
7.OlympusDeltaProXRF分析仪:元素范围Mg-U,检测时间30s
8.JascoJ-1500圆二色光谱仪:波长范围163-950nm,温控精度0.1℃
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:配备PIXcel3D探测器
10.OceanInsightSTS-VIS微型光谱仪:积分时间1ms-10min,光学分辨率1.5nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光谱中检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。