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光谱中检测

  • 原创官网
  • 2025-05-12 23:23:35
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光谱中检测概述:光谱检测技术通过分析物质与电磁波的相互作用实现成分与结构表征。本文重点阐述光谱检测的核心项目及参数指标,涵盖金属材料、半导体器件、高分子聚合物等典型样品的检测范围,列举ASTM、ISO及GB系列标准方法,并介绍主流光谱分析设备的型号与技术特性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.元素成分分析:测定样品中Fe、Cu、Al等金属元素含量(波长范围200-900nm,检出限0.1-10ppm)
2.分子结构鉴定:识别C-H(2800-3100cm⁻)、O-H(3200-3600cm⁻)等官能团振动峰
3.晶体结构分析:测定晶面间距(0.1-10nm),半峰宽≤0.02
4.薄膜厚度测量:精度0.5nm(测量范围1nm-100μm)
5.荧光量子产率:相对误差<2%(激发波长250-800nm)

检测范围

1.金属材料:铝合金(AA6061)、钛合金(Ti-6Al-4V)等
2.半导体材料:硅片(掺杂浓度1E15-1E20atoms/cm)、GaN外延层
3.高分子材料:聚乙烯(密度0.91-0.96g/cm)、聚碳酸酯(透光率≥88%)
4.药品及中间体:阿司匹林(纯度≥99.5%)、头孢类原料药
5.环境样品:土壤重金属(Pb≤80mg/kg)、水质COD(检出限5mg/L)

检测方法

1.ASTME1252-17红外光谱法定性分析标准规程
2.ISO14707:2015辉光放电光谱法表面分析技术规范
3.GB/T223.75-2008钢铁X射线荧光光谱测定多元素含量
4.GB/T6040-2019分子吸收分光光度法通则
5.ISO21258:2010激光诱导击穿光谱法测定金属杂质

检测设备

1.ThermoScientificNicoletiS50FT-IR光谱仪:分辨率0.09cm⁻,扫描速度20次/秒
2.Agilent725ICP-OES:波长范围167-785nm,RF功率1200-1500W
3.BrukerD8ADVANCEXRD:角度精度0.0001,2θ范围3-160
4.PerkinElmerLambda950UV-Vis:光度精度0.0003A,杂散光<0.00007%
5.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率250nm,激光波长532/785nm
6.ShimadzuRF-6000荧光分光光度计:扫描速度30000nm/min,信噪比>800:1
7.OlympusDeltaProXRF分析仪:元素范围Mg-U,检测时间30s
8.JascoJ-1500圆二色光谱仪:波长范围163-950nm,温控精度0.1℃
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:配备PIXcel3D探测器
10.OceanInsightSTS-VIS微型光谱仪:积分时间1ms-10min,光学分辨率1.5nm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光谱中检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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