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去胶检测

  • 原创官网
  • 2025-02-21 15:01:58
  • 关键字:去胶测试仪器,去胶测试方法,去胶测试案例
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去胶检测概述:去胶检测是评估材料表面胶黏剂残留及界面性能的关键技术环节。本文系统阐述去胶效果检测的核心项目、适用材料类型及国际标准方法,重点解析剥离强度、残留成分分析等核心参数,涵盖电子元件、医疗器械等领域的专业化检测方案,为工业质量控制提供科学依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

胶层残留量测定:分辨率0.1μg/cm²,检测范围0.01-100mg/cm²

界面剥离强度测试:载荷精度±0.5%,速度范围0.1-500mm/min

表面形貌分析:扫描电镜分辨率3nm,能谱分析元素范围B5-U92

化学组分鉴定:FTIR检测限0.1%,GC-MS检出限0.01ppm

热稳定性评估:TGA温度范围RT-1200℃,DSC灵敏度0.1μW

检测范围

电子封装材料:芯片封装环氧树脂、导电银胶

光学组件:镜头粘接UV胶、棱镜结构胶

医疗器械:生物相容性水凝胶、手术器械粘接剂

汽车工业:车身结构胶、内饰件压敏胶

高分子复合材料:碳纤维预浸料、特种密封胶

检测方法

ASTM D3455:气相色谱-质谱联用法测定有机残留

ISO 15472:X射线光电子能谱表面成分分析

GB/T 2792:压敏胶粘带剥离强度测试

ASTM D903:基材-胶层180°剥离强度测定

ISO 11358:热重分析法评估热分解特性

检测设备

Thermo Fisher TRACE 1310 GC-MS:配备EI/CI双电离源,NIST 2020数据库

Bruker QUANTAX 200 XPS:单色化Al Kα光源,空间分辨率3μm

Instron 5967万能材料试验机

Hitachi SU8010场发射电镜:配备牛津X-MaxN 150能谱仪

Mettler TGA/DSC 3+:同步热分析系统,温度精度±0.1℃

技术优势

CNAS认可实验室(编号详情请咨询工程师),检测报告国际互认

CMA资质认定(2023量认字001号),覆盖32项胶黏剂检测参数

配备ISO/IEC 17025质量管理体系,数据可溯源至国家基准

技术团队含5名材料学博士,累计发表SCI论文40+篇

参加NIST标准物质比对实验,Z值均小于1.5

  以上是与去胶检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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