1.线性尺寸测量:包括长度(0.01mm)、直径(0.005mm)、厚度(0.002mm)等基础几何量
2.形位公差分析:平面度(≤0.02mm/m)、圆度(≤0.005D)、同轴度(≤φ0.015mm)等空间关系参数
3.表面轮廓测定:粗糙度Ra(0.1-6.3μm)、波纹度Wz(1-50μm)、轮廓峰谷高度差(5μm)
4.角度与弧度校验:夹角精度(15")、圆弧半径偏差(0.05R)、锥度误差(≤1:500)
5.三维坐标测量:空间点位重复性(2μm+3L/1000)、特征位置度(0.01mm)、自由曲面拟合误差(≤0.025mm)
1.金属零部件:包含轴类零件(直径10-500mm)、齿轮模组(模数0.5-20)、冲压件(厚度0.2-6mm)
2.塑料制品:注塑件(收缩率0.2%-1.5%)、挤出型材(截面尺寸0.3%)、吹塑容器(壁厚偏差≤8%)
3.电子元件:PCB板(线宽公差0.02mm)、接插件(引脚间距0.05mm)、半导体封装体(共面度≤0.05mm)
4.复合材料构件:碳纤维层合板(纤维取向偏差≤3)、蜂窝夹芯结构(芯格尺寸0.1mm)、3D打印件(层厚精度5μm)
5.光学器件:透镜曲率半径(0.05%)、棱镜角度误差(≤10")、光栅周期均匀性(0.003μm)
1.接触式测量:执行ASTME2930标准的三坐标测量法(CMM),采用GB/T16857系列规范进行精度验证
2.光学扫描技术:依据ISO10360-7实施结构光扫描,满足VDI/VDE2634标准对点云密度要求
3.影像测量法:按GB/T24762-2009配置数字图像处理系统,实现亚像素级边缘识别
4.激光干涉测量:遵循ISO230-2进行机床定位精度检测,应用GB/T17421.2校准激光跟踪仪
5.专用量具检验:采用GB/T1958-2017规定的功能量规法验证形位公差符合性
1.MitutoyoCRYSTA-ApexS1236三坐标测量机:配备RENISHAWSP25M扫描探头,实现0.6+L/350μm测量精度
2.HexagonAbsoluteArm7520SI激光扫描仪:集成7轴联动系统,点距分辨率达0.01mm
3.KeyenceIM-8000系列影像测量仪:搭载20倍电动变倍镜头,重复性精度0.8μm
4.ZygoNewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,适用于超精密表面形貌分析
5.APIRadian激光跟踪仪:最大测距80m,空间点位精度15μm+6μm/m
6.MahrMarSurfLD260轮廓仪:触针半径2μm,垂直量程50mm,符合ISO4288标准
7.NikonNEXIVVM-300视频测量系统:配备15:1变焦光学系统,支持JISB7430标准
8.ZeissO-INSPECT322复合式测量机:整合接触式测头与光学传感器,满足VDI/VDE2617标准
9.Starrett798B-6-150电子高度规:分辨率1μm,最大量程150mm带温度补偿功能
10.FowlerSylusSupreme数显千分表:量程25mm,精度1μm符合ASMEB89.1.10M标准
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与尺寸构成检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。