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尺寸构成检测

  • 原创官网
  • 2025-05-13 12:47:29
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尺寸构成检测概述:尺寸构成检测是通过精密测量手段对产品几何特征进行量化分析的技术过程,重点评估线性尺寸、形位公差及表面轮廓等核心参数。该检测适用于机械制造、电子元件及复合材料等领域,需依据ISO、ASTM及GB/T等标准规范操作流程,确保数据可追溯性与测量结果准确性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.线性尺寸测量:包括长度(0.01mm)、直径(0.005mm)、厚度(0.002mm)等基础几何量

2.形位公差分析:平面度(≤0.02mm/m)、圆度(≤0.005D)、同轴度(≤φ0.015mm)等空间关系参数

3.表面轮廓测定:粗糙度Ra(0.1-6.3μm)、波纹度Wz(1-50μm)、轮廓峰谷高度差(5μm)

4.角度与弧度校验:夹角精度(15")、圆弧半径偏差(0.05R)、锥度误差(≤1:500)

5.三维坐标测量:空间点位重复性(2μm+3L/1000)、特征位置度(0.01mm)、自由曲面拟合误差(≤0.025mm)

检测范围

1.金属零部件:包含轴类零件(直径10-500mm)、齿轮模组(模数0.5-20)、冲压件(厚度0.2-6mm)

2.塑料制品:注塑件(收缩率0.2%-1.5%)、挤出型材(截面尺寸0.3%)、吹塑容器(壁厚偏差≤8%)

3.电子元件:PCB板(线宽公差0.02mm)、接插件(引脚间距0.05mm)、半导体封装体(共面度≤0.05mm)

4.复合材料构件:碳纤维层合板(纤维取向偏差≤3)、蜂窝夹芯结构(芯格尺寸0.1mm)、3D打印件(层厚精度5μm)

5.光学器件:透镜曲率半径(0.05%)、棱镜角度误差(≤10")、光栅周期均匀性(0.003μm)

检测方法

1.接触式测量:执行ASTME2930标准的三坐标测量法(CMM),采用GB/T16857系列规范进行精度验证

2.光学扫描技术:依据ISO10360-7实施结构光扫描,满足VDI/VDE2634标准对点云密度要求

3.影像测量法:按GB/T24762-2009配置数字图像处理系统,实现亚像素级边缘识别

4.激光干涉测量:遵循ISO230-2进行机床定位精度检测,应用GB/T17421.2校准激光跟踪仪

5.专用量具检验:采用GB/T1958-2017规定的功能量规法验证形位公差符合性

检测设备

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS1236三坐标测量机:配备RENISHAWSP25M扫描探头,实现0.6+L/350μm测量精度

2.HexagonAbsoluteArm7520SI激光扫描仪:集成7轴联动系统,点距分辨率达0.01mm

3.KeyenceIM-8000系列影像测量仪:搭载20倍电动变倍镜头,重复性精度0.8μm

4.ZygoNewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,适用于超精密表面形貌分析

5.APIRadian激光跟踪仪:最大测距80m,空间点位精度15μm+6μm/m

6.MahrMarSurfLD260轮廓仪:触针半径2μm,垂直量程50mm,符合ISO4288标准

7.NikonNEXIVVM-300视频测量系统:配备15:1变焦光学系统,支持JISB7430标准

8.ZeissO-INSPECT322复合式测量机:整合接触式测头与光学传感器,满足VDI/VDE2617标准

9.Starrett798B-6-150电子高度规:分辨率1μm,最大量程150mm带温度补偿功能

10.FowlerSylusSupreme数显千分表:量程25mm,精度1μm符合ASMEB89.1.10M标准

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与尺寸构成检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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