居里温度(Tc):测定材料磁有序状态转变临界点,测试范围-50℃~300℃,精度±0.5℃
起始磁导率(μi):低频(1kHz~10MHz)条件下测量初始磁化率,误差≤±2%
电阻率(ρ):采用四探针法测试,量程102~108Ω·cm
损耗因子(tanδ):高频(1MHz~100MHz)磁芯损耗评估,分辨率0.001
饱和磁通密度(Bs):磁场强度≥5000A/m时测量,重复性误差≤1.5%
Mn-Zn系热敏铁氧体磁芯
Ni-Cu-Co多元掺杂铁氧体材料
片式电感用低温共烧陶瓷(LTCC)基板
温度补偿型磁放大器组件
高频开关电源变压器磁芯
ASTM A912:居里温度差示扫描量热法(DSC)
IEC 60401-3:磁导率频率特性测试规程
ASTM B193:电阻率四探针法标准测试程序
IEC 62044-3:磁芯损耗高频测试方法
ISO 2178:非磁性基体磁性涂层磁通密度测量规范
NETZSCH STA 449F3:同步热分析仪,支持TGA/DSC联用,温度分辨率0.1℃
Keysight 4294A:精密阻抗分析仪,频率范围40Hz~110MHz
Lake Shore 7404:振动样品磁强计,磁场强度±3T,灵敏度0.1emu
Agilent 4156C:半导体参数分析仪,支持高阻材料IV特性测试
Malvern Panalytical Empyrean:XRD衍射仪,晶相分析精度0.01°
通过CNAS(注册号详情请咨询工程师)和CMA(编号详情请咨询工程师)双重认可,检测报告国际互认
配置A2LA校准体系设备,温度场均匀性≤±0.3℃,磁场稳定性≤0.05%/h
研发团队含3名磁学博士,近五年发表SCI论文12篇,获发明专利5项
符合ISO/IEC 17025:2017体系要求,数据不确定度评估达到ILAC-P14标准
具备航空航天材料NADCAP认证资质,支持-196℃~1500℃极端环境模拟测试
以上是与热敏铁氧体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。