1.晶粒尺寸分析:测量范围50nm-500μm,精度2%
2.位错密度测定:分辨率≥10^6cm^-2
3.相组成定量分析:元素检出限0.01at%
4.界面能表征:测量误差≤5mJ/m
5.织构取向分布:欧拉角精度0.5
6.纳米析出相统计:粒径检测下限3nm
1.金属合金:铝合金/钛合金/高温合金晶界特征分析
2.半导体材料:SiC/GaN外延层缺陷表征
3.陶瓷材料:氧化锆相变定量与晶界偏析检测
4.高分子材料:结晶度与球晶尺寸分布测定
5.复合材料:增强相-基体界面结合强度评估
1.ASTME112晶粒度测定标准
2.ISO24173电子背散射衍射分析方法
3.GB/T13305不锈钢中α相含量测定
4.ISO16700扫描电镜校准规范
5.GB/T35099微束X射线衍射分析方法
1.蔡司Sigma500场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV
2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:角度重复性0.0001
3.EDAXOctaneElite能谱仪:元素分析范围Be-Pu
4.OxfordSymmetryEBSD系统:采集速度4000点/秒
5.FEITalosF200X透射电镜:点分辨率0.16nm
6.KeyenceVHX-7000数码显微镜:景深扩展功能
7.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围10nm-3.5mm
8.NetzschDIL402Expedis热膨胀仪:温度分辨率0.1℃
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与微观态检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。