1.点阵间距精度:测量相邻点阵中心距偏差值(0.5μm以内)
2.周期性误差分析:计算阵列重复周期标准差(≤0.3%)
3.三维形貌平整度:评估表面起伏高度(Ra≤0.8μm)
4.孔径一致性:测量单个点阵直径波动范围(1.2μm)
5.阵列角度偏移:检测排列方向与基准轴夹角(≤0.05)
1.金属增材制造件的支撑结构点阵
2.半导体封装用微凸块阵列
3.MEMS器件的微孔阵列结构
4.光学衍射元件的周期性格栅
5.生物芯片的微反应腔点阵
ASTME2934-17光学显微镜阵列测量标准方法
ISO25178-604非接触式三维表面测量规范
GB/T34878-2017微细加工元件几何量测量方法
ISO10360-7坐标测量机验收标准
GB/T6062-2009激光干涉仪测量规范
1.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜(XYZ分辨率0.01μm)
2.KeyenceVK-X30003D形貌分析系统(1200万像素CMOS)
3.ZygoNewView9000白光干涉仪(垂直分辨率0.1nm)
4.MitutoyoQuickVisionPro影像测量仪(双远心光学系统)
5.BrukerContourGT-K光学轮廓仪(20~150电动变倍)
6.ZeissAxioCSM700共聚焦扫描系统(405nm激光光源)
7.HexagonOptivPerformance影像仪(多段式LED环形光)
8.NikonMM-400U测量显微镜(15:1变焦物镜组)
9.SensofarSneox三维光学轮廓仪(120fps高速扫描)
10.HitachiTM4000桌面电镜(5kV低真空模式)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与点阵间隔检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。