检测项目

1.物相组成分析：XRD半峰宽≤0.1，定量精度0.5wt%

2.晶体结构参数：晶格常数测量误差≤0.0005nm

3.残余应力测定：X射线衍射法精度20MPa

4.织构取向分析：极图密度分辨率0.5mrd

5.非晶含量测定：DSC法结晶度误差1.5%

检测范围

1.金属合金：钛合金/铝合金/高温合金的α/β相比例

2.陶瓷材料：氧化锆四方相/单斜相含量测定

3.半导体材料：硅单晶位错密度≤500/cm

4.高分子材料：PE/PP结晶度(40-80%)测定

5.地质样品：石英/长石多型转变温度分析

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME975(残余奥氏体)、GB/T8362(金属织构)

2.电子背散射衍射：ISO24173(EBSD取向分析)

3.中子衍射法：ISO21479(大体积构件应力)

4.拉曼光谱法：GB/T36053(石墨烯层数判定)

5.同步辐射技术：ISO/TS21383(纳米材料结构)

检测设备

1.X射线衍射仪：PANalyticalEmpyrean（2θ精度0.0001）

2.场发射电镜：FEIVerios460L（分辨率0.6nm）

3.EBSD探测器：OxfordSymmetry（采集速度4000pps）

4.激光拉曼仪：RenishawinVia（532nm/785nm双波长）

5.同步辐射装置：上海光源BL14B1（能量范围5-20keV）

6.高温衍射附件：AntonPaarHTK1200N（1600℃原位分析）

7.应力分析仪：ProtoLXRD（ψ角范围45）

8.纳米压痕仪：AgilentG200（位移分辨率0.01nm）

9.DSC热分析仪：TAQ200（温度精度0.1℃）

10.三维X射线显微镜：ZEISSXradia620（空间分辨率0.7μm）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与相检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。