1.表面粗糙度:Ra值范围0.05-1.6μm,Rz值测量精度5%
2.镀层厚度:测量范围0.1-500μm,分辨率达0.01μm
3.晶粒尺寸:分析范围10nm-200μm,ASTME112标准评级
4.孔隙率检测:孔径测量精度0.5μm,密度偏差≤0.1%
5.残余应力:测量范围2000MPa,X射线衍射法误差≤3%
1.金属材料:铝合金轧制板材、钛合金锻件、不锈钢焊接接头
2.半导体元件:硅晶圆薄膜层、GaN外延片界面结构
3.高分子材料:注塑件结晶度、复合材料层间结合状态
4.涂层体系:PVD硬质涂层、热障涂层TBCs梯度结构
5.精密器件:MEMS微结构形变、光学镜片镀膜均匀性
1.X射线荧光光谱法(ASTME572-21):元素成分定量分析
2.激光共聚焦显微镜(ISO25178):三维表面形貌重建
3.电子背散射衍射(GB/T35097-2018):晶体取向与织构分析
4.超声C扫描(GB/T27664.1-2023):内部缺陷可视化成像
5.白光干涉仪(ISO4287):亚纳米级粗糙度测量
1.奥林巴斯XRDAnalyzerXRF-2000:多元素同步快速检测系统
2.蔡司Sigma500场发射电镜:1nm分辨率扫描电子显微镜
3.KeyenceVK-X3000激光显微镜:408nm波长共聚焦成像系统
4.BrukerD8DISCOVERX射线衍射仪:Cu靶Kα射线源(λ=1.5406)
5.Instron5967万能试验机:50kN载荷精度0.5%力学测试平台
6.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:高温原位晶体结构分析仪
7.ThermoFisherARLEQUINOX3000XRF:多基体无损成分分析仪
8.Agilent5500AFM原
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与物理显影检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。