双脉冲记录检测

检测项目1.脉冲电压幅值:测量范围10kV,精度0.5%2.电流上升时间:测试范围1ns-100μs,分辨率0.1ns3.脉冲间隔时间:可调范围10ns-10ms,误差≤2%4.介质损耗角正切值:频率范围1kHz-1MHz,精度0.00015.动态电阻变化率:量程0.1mΩ-10kΩ,温度补偿范围-55℃~150℃检测范围1.功率半导体器件(IGBT/MOSFET/SiC模块)2.高频磁性材料(纳米晶/铁氧体/非晶合金)3.高压电容器(薄膜电容/陶瓷电容/电解电容)4.电力电子连接器(高压端子/母排/接插

原创阅读 102025-05-14工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.脉冲电压幅值:测量范围10kV,精度0.5%

2.电流上升时间:测试范围1ns-100μs,分辨率0.1ns

3.脉冲间隔时间:可调范围10ns-10ms,误差≤2%

4.介质损耗角正切值:频率范围1kHz-1MHz,精度0.0001

5.动态电阻变化率:量程0.1mΩ-10kΩ,温度补偿范围-55℃~150℃

检测范围

1.功率半导体器件(IGBT/MOSFET/SiC模块)

2.高频磁性材料(纳米晶/铁氧体/非晶合金)

3.高压电容器(薄膜电容/陶瓷电容/电解电容)

4.电力电子连接器(高压端子/母排/接插件)

5.绝缘封装材料(环氧树脂/硅凝胶/聚酰亚胺薄膜)

检测方法

ASTMF42-20《半导体器件动态参数测试规程》第5.3节双脉冲法

ISO16750-2:2023《道路车辆电气负荷》瞬态过电压测试条款

GB/T17626.4-2018《电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》

GB/T16927.1-2022《高电压试验技术第1部分:一般定义及试验要求》

IEC60747-9:2021《半导体器件分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管》

检测设备

KeysightInfiniiumUXR0134A示波器:110GHz带宽,256GSa/s采样率

TektronixTCP0030A电流探头:120MHz带宽,50A量程

AMETEKCTS7500高压电源:输出0-15kVDC/10kV脉冲模式

HiokiIM3590阻抗分析仪:频率范围10Hz-200MHz,基本精度0.05%

Chroma19032功率器件测试系统:最大电压6kV/电流3kA

Fluke289真有效值万用表:0.025%基本直流精度

AgilentN6705C直流电源分析仪:四通道独立输出,总功率300W

Rohde&SchwarzRTO2044示波器:4GHz带宽,40GSa/s采样率

Keithley2657A高压源表:3kV/20mA脉冲输出能力

YokogawaWT1800高精度功率计:带宽5MHz,基本精度0.05%

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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