双脉冲记录检测概述:检测项目1.脉冲电压幅值:测量范围10kV,精度0.5%2.电流上升时间:测试范围1ns-100μs,分辨率0.1ns3.脉冲间隔时间:可调范围10ns-10ms,误差≤2%4.介质损耗角正切值:频率范围1kHz-1MHz,精度0.00015.动态电阻变化率:量程0.1mΩ-10kΩ,温度补偿范围-55℃~150℃检测范围1.功率半导体器件(IGBT/MOSFET/SiC模块)2.高频磁性材料(纳米晶/铁氧体/非晶合金)3.高压电容器(薄膜电容/陶瓷电容/电解电容)4.电力电子连接器(高压端子/母排/接插
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1.脉冲电压幅值:测量范围10kV,精度0.5%
2.电流上升时间:测试范围1ns-100μs,分辨率0.1ns
3.脉冲间隔时间:可调范围10ns-10ms,误差≤2%
4.介质损耗角正切值:频率范围1kHz-1MHz,精度0.0001
5.动态电阻变化率:量程0.1mΩ-10kΩ,温度补偿范围-55℃~150℃
1.功率半导体器件(IGBT/MOSFET/SiC模块)
2.高频磁性材料(纳米晶/铁氧体/非晶合金)
3.高压电容器(薄膜电容/陶瓷电容/电解电容)
4.电力电子连接器(高压端子/母排/接插件)
5.绝缘封装材料(环氧树脂/硅凝胶/聚酰亚胺薄膜)
ASTMF42-20《半导体器件动态参数测试规程》第5.3节双脉冲法
ISO16750-2:2023《道路车辆电气负荷》瞬态过电压测试条款
GB/T17626.4-2018《电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》
GB/T16927.1-2022《高电压试验技术第1部分:一般定义及试验要求》
IEC60747-9:2021《半导体器件分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管》
KeysightInfiniiumUXR0134A示波器:110GHz带宽,256GSa/s采样率
TektronixTCP0030A电流探头:120MHz带宽,50A量程
AMETEKCTS7500高压电源:输出0-15kVDC/10kV脉冲模式
HiokiIM3590阻抗分析仪:频率范围10Hz-200MHz,基本精度0.05%
Chroma19032功率器件测试系统:最大电压6kV/电流3kA
Fluke289真有效值万用表:0.025%基本直流精度
AgilentN6705C直流电源分析仪:四通道独立输出,总功率300W
Rohde&SchwarzRTO2044示波器:4GHz带宽,40GSa/s采样率
Keithley2657A高压源表:3kV/20mA脉冲输出能力
YokogawaWT1800高精度功率计:带宽5MHz,基本精度0.05%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与双脉冲记录检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。