等势面检测概述:检测项目1.表面电位差测量:量程20kV,分辨率0.1V2.电场强度分布分析:空间分辨率≤1mm3.材料体积电阻率测试:测量范围10^3~10^18Ωcm4.表面电荷衰减时间:时间常数0.01s~3600s5.静电屏蔽效能评估:频率范围DC~40GHz6.接触电位差稳定性:长期漂移≤1%/24h检测范围1.金属镀层材料(镀金/银/镍基材)2.半导体晶圆及封装器件3.高分子防静电材料(ESD塑料/橡胶)4.高压绝缘介质(陶瓷/玻璃/云母制品)5.航天器热控涂层系统6.医疗电子设备外壳组件检测方法1.ASTM
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.表面电位差测量:量程20kV,分辨率0.1V
2.电场强度分布分析:空间分辨率≤1mm
3.材料体积电阻率测试:测量范围10^3~10^18Ωcm
4.表面电荷衰减时间:时间常数0.01s~3600s
5.静电屏蔽效能评估:频率范围DC~40GHz
6.接触电位差稳定性:长期漂移≤1%/24h
1.金属镀层材料(镀金/银/镍基材)
2.半导体晶圆及封装器件
3.高分子防静电材料(ESD塑料/橡胶)
4.高压绝缘介质(陶瓷/玻璃/云母制品)
5.航天器热控涂层系统
6.医疗电子设备外壳组件
1.ASTMD257-14:绝缘材料直流电阻测试标准
2.ISO3915:2021静电屏蔽材料衰减特性测量
3.GB/T1410-2006固体绝缘材料体积电阻试验
4.IEC61340-5-1静电放电防护物品测试规范
5.GB/T12703.4-2010纺织品静电性能评价第4部分:电荷衰减时间测定
6.ASTME1461-13热扩散率瞬态平面热源法
1.KeysightB2987A超高阻计:10aA~10mA电流测量精度
2.TrekModel347静电电位计:20kV量程非接触式测量
3.MonroeElectronicsModel284E电荷衰减测试仪:符合MIL-STD-1686C标准
4.Keithley6517B静电计:0.01fA~20mA电流测量能力
5.FLIRE8-XT红外热像仪:热灵敏度<0.03℃@30℃
6.AgilentN5227APNA网络分析仪:10MHz~67GHz频段屏蔽效能测试
7.SimcoFMX-003场强测试套件:三维电场分布测绘系统
8.HIOKIIM3570阻抗分析仪:4Hz~5MHz宽频阻抗测量
9.ThermoScientificC-ThermTCi导热仪:瞬态平面热源法热导率测试
10.OphirPD300-3W光电探头:紫外-近红外光谱响应校准
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与等势面检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。