聚合硅检测

检测项目

1.二氧化硅含量测定：SiO₂纯度≥99.9%，灼烧减量≤0.5%

2.粒径分布分析：D50值1-50μm范围测定，跨度系数≤1.2

3.比表面积测试：BET法测量范围0.5-500m/g

4.金属杂质检测：Fe≤50ppm,Al≤100ppm,Ca≤30ppm

5.水分含量测定：105℃恒重法控制≤0.3%

6.表面羟基密度：滴定法测定3-6个/nm

检测范围

1.光伏级多晶硅原料及切割废料

2.半导体晶圆用高纯硅溶胶

3.橡胶补强用沉淀法白炭黑

4.涂料消光剂用气相二氧化硅

5.陶瓷釉料用熔融石英粉体

6.锂电池负极材料用纳米硅碳复合材料

检测方法

ASTME1614-2014电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属杂质

ISO13320-2020激光衍射法测定粒度分布

GB/T19077-2016动态光散射法纳米颗粒尺寸分析

GB/T6284-2015化工产品中水分含量的测定通则

ISO9277-2010静态容量法BET比表面测试

JISK6220-1-2018橡胶配合剂二氧化硅试验方法

检测设备

1.ThermoScientificARLQUANT'XX射线荧光光谱仪：元素定量分析（Na-U）

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm粒径测量

3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：0.0001m/g精度BET测试

4.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：ppb级金属杂质检测

5.MettlerToledoDL39KarlFischer滴定仪：0.001%水分测定精度

6.HitachiSU5000场发射电镜：纳米级形貌观测及EDS成分分析

7.NetzschSTA449F3同步热分析仪：热重-差热联用分析

8.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶型结构鉴定

9.HoribaLA-960激光散射粒度仪：湿法/干法分散系统

10.Agilent7900ICP-MS：超痕量元素分析（ppt级）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"聚合硅检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。