放大成像检测概述:检测项目1.分辨率验证:采用1951USAF分辨率测试板进行线对/mm定量分析(0.5-228lp/mm)2.几何畸变率测定:基于ISO9039标准计算径向畸变率(≤1.5%)3.放大倍数校准:使用NIST认证的微米级标准刻度尺(量程0.1-1000μm)4.景深测试:通过阶梯式高度标样测量有效聚焦深度(5μm~200μm)5.照明均匀度评估:采用积分球光源系统检测视场照度偏差(≤8%)检测范围1.金属材料:包括铝合金晶粒度分析(GB/T6394)、钢件表面裂纹检测(ASTME1441)2.半导体器件:芯
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.分辨率验证:采用1951USAF分辨率测试板进行线对/mm定量分析(0.5-228lp/mm)
2.几何畸变率测定:基于ISO9039标准计算径向畸变率(≤1.5%)
3.放大倍数校准:使用NIST认证的微米级标准刻度尺(量程0.1-1000μm)
4.景深测试:通过阶梯式高度标样测量有效聚焦深度(5μm~200μm)
5.照明均匀度评估:采用积分球光源系统检测视场照度偏差(≤8%)
1.金属材料:包括铝合金晶粒度分析(GB/T6394)、钢件表面裂纹检测(ASTME1441)
2.半导体器件:芯片焊点缺陷识别(JEDECJESD22-B113)、晶圆表面污染分析
3.高分子材料:塑料薄膜微孔测量(ISO4591)、橡胶制品界面分层检测
4.生物样本:细胞形态观测(ISO10993-22)、组织切片厚度验证
5.精密元件:微型轴承尺寸测量(GB/T307.2)、MEMS器件三维形貌重建
1.ASTMB748-90(2021):扫描电镜测量金属涂层厚度方法
2.ISO16700:2016:透射电子显微镜校准规范
3.GB/T27760-2011:激光共聚焦显微镜系统性能测试方法
4.ISO19214:2017:微束分析-扫描电镜横向分辨率测定
5.GB/T35088-2018:显微硬度计压痕测量用CCD系统校准规范
1.奥林巴斯DSX1000数码显微镜:具备20x-7000x连续变倍及景深合成功能
2.KeyenceVHX-7000超景深三维显微镜:支持4K分辨率下的3D表面粗糙度分析
3.ZEISSXradia620VersaX射线显微镜:实现50nm分辨率的无损三维成像
4.HitachiRegulus8230冷场发射电镜:配备EDS系统进行元素面分布分析
5.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:垂直分辨率达0.1nm的微观形貌测量
6.NikonEclipseTi2共聚焦显微镜:支持活细胞动态观测的共振扫描系统
7.LeicaEMACE900镀膜仪:满足高真空电镜样品制备需求
8.MitutoyoMF-U系列测量显微镜:配备激光干涉仪的亚微米级定位系统
9.PhenomPharos桌面扫描电镜:集成背散射电子探测器(BSD)的快速成像系统
10.VisionEngineeringLynxEVO体视显微镜:采用无目镜动态聚焦技术(DFT)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与放大成像检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。